판매용 중고 FEI DA300 #9259263

ID: 9259263
빈티지: 2008
Defect analyzer 2008 vintage.
FEI DA300 은 나노미터 규모의 장치 테스트 및 특성화에 가장 높은 정확도, 정확도, 속도를 제공하도록 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 시스템은 두 개의 측정 헤드 (measurement head) 로 구성되어 물리적 이동 없이 두 개의 다른 샘플을 동시에 측정할 수 있습니다. 따라서 결함 연구와 같은 데이터 집약적 실험에 이상적입니다. DA300 은 고출력 레이저 조명 장치 (Laser-illumination Unit) 에서 작동하여 매우 높은 해상도에서도 저용량 측정이 가능합니다. 이 기계는 또한 고속, 이중 렌즈 광학 도구를 갖추고 있으며, 이는 고해상도 측정을 달성하는 데 도움이됩니다. 이 에셋은 또한 광범위한 다이내믹 레인지 (dynamic range) 를 제공하여 사용자가 까다로운 상황에서도 장치를 측정 할 수 있습니다. FEI DA300 또한 정밀 도량형 기술을 갖추고 있으며, 이를 통해 사용자는 구조를 나노 미터 수준까지 측정 할 수 있습니다. 이를 통해 정밀 장치 테스트 및 모니터링에 이상적입니다. 이 모델은 또한 고급 이미징 (advanced imaging) 기술을 사용하여 픽셀이 완벽한 디테일과 선명도로 이미지를 얻을 수 있습니다. 또한 획득한 이미지를 매우 빠르고 정확하게 분석할 수 있습니다. 또한 DA300 에는 데이터 수집, 분석, 시각화 등 다양한 소프트웨어 패키지가 장착되어 있습니다. 이러한 기능을 통해 장비가 장치 테스트 및 특성에 이상적입니다. FEI DA300 은 사용이 편리하고 편리한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 와 다양한 하드웨어/소프트웨어 옵션을 제공합니다. 이 기능을 사용하면 실험의 결과를 빠르고 효율적으로 평가할 수 있습니다. 사용자는 원하는 대로 다양한 옵션을 사용하여 시스템을 업그레이드할 수도 있습니다. 전반적으로 DA300 은 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장치입니다. 이 제품은 고정밀도 및 고속 측정을 제공하므로 사용자가 나노미터 (nanometer) 스케일 결과를 얻을 수 있습니다. 또한 사용자 친화적이고 기능이 풍부한 시스템 (User-Friendly and Feature-Rich Machine) 은 다양한 맞춤형 구성 옵션을 제공하여 모든 유형의 실험 또는 분석에 이상적입니다.
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