판매용 중고 FEI DA300 #293670288

ID: 293670288
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2010
Defect analyzer, 12" NG Scanning Electron Microscope column (SEM) Detectors: ETD, TLD, CDEM Sidewinder FIB Column: 20 nA BROOKS Front end FOUP Capacitance probe OXFORD 30 mm SDD EDS Plasma cleaner OMNIPROBE 200 Manipulator Gas injection system: Pt Operating system: Windows XP 2010 vintage.
FEI DA300 은 가장 까다로운 테스트 시나리오를 처리하도록 설계된 고성능 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 플렉서블 (Flexible) 시스템은 두껍고 얇은 웨이퍼를 테스트하는 데 적합하며, 다양한 반도체 (Semiconductor) 기술을 통해 다양한 작업을 처리할 수 있습니다. DA300 장치는 고정밀 간섭계 (high-precision interferometer) 와 보호실 (protective chamber) 과 다양한 웨이퍼 크기와 구성에 대한 여러 웨이퍼 테스트 단계로 구성됩니다. 표면 평탄도 (surface flatness) 와 높이의 차이 (difference of height) 를 측정하도록 설계된 간섭계 (interferometer) 는 더 빠른 계산이 가능한 닫힌 루프 머신 하에서 작동합니다. 또한 전용 하이엔드 모션 컨트롤 툴 (Motion Control Tool) 은 탁월한 정확성과 뛰어난 추적 능력을 보장하여 테스트의 정확성을 보장합니다. 광학 측면에서, 자산은 4 인치 MIMO 조리개 및 완전 프로그래밍 가능한 연속 기계식 스캔 모드가있는 이미징 모델을 사용합니다. 이 장비는 또한 2 차원 및 3 차원 웨이퍼 테스트를위한 다양한 고급 알고리즘을 갖춘 고급 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 더욱이, 이 시스템은 다양한 중량 (옵션) 기능을 처리할 수 있으며, 더 빠른 검사와 더 큰 워크로드 (워크로드) 를 제공합니다. FEI DA300은 직관적이고 사용하기 쉽도록 설계되었으며, 잠재적 인 문제에 대한 명확한 조기 경고 표시를 제공합니다. 또한 컬러 터치 스크린 (Color Touch Screen) 이 있는 통합 제어 장치 (Control Unit) 를 통해 사용자는 버튼 누르기 시 가장 자주 사용되는 매개변수에 빠르게 액세스 할 수 있습니다. 이 기계는 또한 즉석 측정 및 보고서 생성 자동화 (automated report generation) 기능을 제공하여 보다 효율적인 워크플로를 제공합니다. 전반적으로, DA300 은 강력하고 신뢰할 수 있는 웨이퍼 테스트 및 도량형 (metrology) 툴로서, 정밀 표면 평면도 및 높이 측정에서 자동 즉석 측정에 이르기까지 다양한 작업을 처리하도록 설계되었습니다. 이 자산은 또한 워크로드가 빠르고 정확하게 수행되도록 최적화되었으며, 소프트웨어 (Software) 는 다양한 고급 기능 (Advanced Features) 을 제공하여 사용자가 모델을 최대한 활용할 수 있습니다.
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