판매용 중고 FEI 300 #9386526

FEI 300
ID: 9386526
Defect analyzer, 12".
FEI 300은 전자 현미경 및 리소그래피 장비 분야에서 세계 최고의 혁신가 중 한 명인 FEI 컴퍼니 (FEI Company) 가 제조 한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 나노 미터 스케일에서 웨이퍼 (wafer) 샘플의 물리적 및 전기적 특성을 정확하게 측정하도록 설계된 회사의 최상위 도량형 장치입니다. 이 기계는 유전체, 반도체, 자기 재료에 대한 광범위한 테스트 절차 및 분석 프로세스를 수행 할 수 있습니다. 300 개는 고해상도 전기 측정, 샘플의 물리적/화학적 분석, 스캔 및 이미징 기능, 기타 다양한 프로세스 등 다양한 도량형 기술을 제공합니다. 샘플을 1 나노 미터 정확도 내에서 정확하게 배치 할 수있는 강력한 5 축 스테이지가 특징입니다. 또한 기울기 보상 기능 (tilt compensation feature) 을 통해 샘플의 방향을 변경하지 않고 자유롭게 이동할 수 있습니다. 이 도구에는 광학 현미경, 전자 현미경, x- 선 회절 현미경과 같은 다양한 이미징 도구가 장착되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 샘플의 물리적 구조를 자세히 연구 할 수 있습니다. FEI 300은 또한 표면의 정확한 지형지도 (나노 미터 수준) 를 생성 할 수있다. 이 자산에는 강력한 소프트웨어 제품군 (Software Suite) 도 포함되어 있으며, 이를 통해 사용자는 샘플을 자세히 분석 할 수 있습니다. 이 제품군에는 다양한 템플릿과 마법사 (wizard) 가 포함되어 있으며, 이 마법사를 사용하면 표면의 거칠기 (roughness) 와 필름 두께 (film thickness) 에서 전기적 특성 (electrical properties) 에 이르기까지 샘플의 광범위한 매개변수를 정확하게 측정할 수 있습니다. 이 소프트웨어에는 광범위한 자료 라이브러리 (Library of materials) 가 포함되어 있으며, 사용자는 샘플을 비교하고 대조하고 결과를 비교할 수 있습니다. 300 (300) 은 매우 강력한 도구로서, 광범위한 재료를 정확하게 측정하고 분석하는 데 사용될 수 있습니다. 이 모델의 강력한 계측기 (instrumentation) 와 강력한 소프트웨어 기능을 통해 과학자, 엔지니어가 파퍼 (wafer) 샘플의 특성을 측정하고 분석하는 데 매우 유용한 도구이며, 전례없는 정확성과 정확도를 제공합니다. 이것은 현대 실험실 또는 엔지니어의 무기고에 필수적인 도구입니다.
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