판매용 중고 EM ETAMAX UniMAP #9360878

ID: 9360878
Automatic reflectivity mapping system With transformer for EU voltage, 230V ULVAC Vacuum pump for robot (14) Cassettes, 2" (6) Cassettes, 4" (6) Cassettes, 6" Main frame: X-Y Stage: AC Servo control Cassette holder: 2"-6" Operating cassette size: 2"-6" Robot type: Auto loader Flat zone finder Z-Stage adjustment Light source: White LED: Reflectance measurement LED Intensity monitoring: One sensor Spectrometer: 3636 Pixels Wavelength range: 420 nm, span: 380-800 nm Hardware pixel resolution : 0.13 nm/pixel Optic slit: 50 µm USB Control Filters and lens Measurements: Wafer surface uniformity Reflectance by spectrometer Calculated by maximum - minimum / Maximum + minimum Calculated by standard deviation Minimum and maximum value of reflectance Data acquisition PC: Operating system: Windows 7 LCD Monitor, 17 Sorting function: PSS Uniformity / Reflectance mapping Power supply: 220 V, 30 A, 3-Wires CDA: 0.2 ~ 0.4 Mpa.
ETAMAX EM ETAMAX UniMAP 장비는 반도체 웨이퍼 및 칩의 전기 및 물리적 특성을 측정하기위한 포괄적 인 솔루션을 제공하는 웨이퍼 테스트 및 도량형 도구입니다. 이 시스템은 설계 (Design) 에서 분석 (Analysis) 에 이르기까지 모든 Wafer 테스트 측면을 다루며 Wafer가 모든 산업 표준 및 사양을 충족하도록 합니다. ETAMAX UniMAP은 프로세스 제어, 테스트 계측 및 도량형의 세 가지 핵심 모듈로 구성됩니다. 프로세스 제어는 AutoCell 기술을 사용하여 프로세스 매개변수 및 테스트 조건을 정확하고 정확하게 제어합니다. 이렇게 하면 고객이 지정한 사양에 따라 웨이퍼가 생성됩니다. 테스트 계측에는 웨이퍼의 다른 전기 특성 (예: 저항, 정전기, 누출 전류) 을 측정하는 데 사용되는 다양한 특수 자동 도구가 포함됩니다. 도량형은 두께, 곡률 등의 물리적 웨이퍼 매개변수를 측정하는 데 사용됩니다. 또한 웨이퍼 성능에 영향을 줄 수 있는 결함을 감지하는 데 사용됩니다. ETAMAX EM ETAMAX UniMAP (ETAMAX UniMAP) 으로 웨이퍼를 테스트할 때, 사용자는 테스트 시퀀스를 설정하여 평가하려는 특정 특성을 측정할 수 있습니다. 이 장치는 Contact Imaging, Force, Thermal Scanning 등 다양한 데이터 수집 방법을 제공합니다. 또한, 필요한 경우, 시스템을 사용하여 데이터 분석, 결과 비교, 과거 사양, 수정 조치 권장 등을 수행할 수 있습니다. ETAMAX UniMAP (ETAMAX UniMAP) 은 업계에서 가장 발전된 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템 중 하나로, 사용자에게 탁월한 정확성과 안정적인 웨이퍼 평가 플랫폼을 제공합니다. 이 도구는 매우 효율적이며, 이는 생산 라인에서 웨이퍼 테스트에 이상적인 선택입니다. 사용자 친화적인 인터페이스와 직관적인 컨트롤 패널로, 사용자 친화적이고 사용이 간편합니다. 또한, 소프트웨어는 PC에서 실행되므로 전용 하드웨어가 필요하지 않습니다. 전반적으로 ETAMAX EM ETAMAX UniMAP은 강력하고, 안정적이며, 비용 효율적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 자산으로, 사용자에게 반도체 웨이퍼 및 칩을 측정 및 평가하기위한 포괄적 인 솔루션을 제공합니다. 첨단 기능과 종합적인 기능으로, 정확하고 안정적인 웨이퍼 (wafer) 처리를 위한 안정적인 선택이 가능합니다.
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