판매용 중고 E+H METROLOGY MX 204-8-37-Q #9234108

E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q는 가장 까다로운 어플리케이션에 적합하도록 유연성을 제공하면서 정확한 측정을 제공하도록 설계된 강력한 자동 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 시스템의 핵심에는 고급 8 채널, 37 채널 통합 테스트 및 도량형 스테이션이 있습니다. 이 장치는 안정적인 CCD 기반 광학 머신을 통해 높은 정확성과 안정성을 제공합니다. MX 204-8-37-Q는 빠른 스캔 및 프로세스 제어 알고리즘을 사용하여 뛰어난 반복성을 제공합니다. 기계는 다양한 장치 구조의 다양한 매개 변수 (예: 임계 치수, 평면도, CD 균일성) 를 특성화하는 데 사용될 수 있습니다. 또한 고급 디바이스의 토폴로지를 효율적으로 측정하여 프로세스 최적화 (process optimization) 및 향상된 웨이퍼 (wafer) 수율을 실현할 수 있습니다. 50kHz 레이저 스캐닝은 매우 넓은 동적 범위 (dynamic range) 와 매우 낮은 샷 노이즈 레벨 (shot noise level) 을 갖춘 전례없는 빠른 추적을 제공합니다. 이 자산은 스캐닝 전자 현미경, AFM/SPM 및 PIC (particle-in-cell) 2 차 전자 이미징과 같은 응용 분야에 이상적입니다. E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q는 또한 여러 웨이퍼 테스트 및 측정 방법 (예: 동적 비접촉 감지, 스캔 및 이미징) 을 지원하는 다중 모드 작동을 제공합니다. 또한, 이 모델은 운영 단순화를 위한 다양한 옵션 (options) 을 제공하며, 다양한 기능을 제공하여 사용자가 필요에 따라 장비를 구성할 수 있습니다. 이 시스템은 고급 기술을 활용하여 최고의 효율성, 정확성, 정확성, 반복성을 제공합니다. MX 204-8-37-Q 는 직관적인 사용자 인터페이스를 갖추고 있으며, 시스템 프로그래밍에 대한 전문 지식 없이도 쉽게 장치를 제어할 수 있습니다. LabVIEW 소프트웨어는 LabVIEW 소프트웨어를 활용하여 사용자에게 높은 수준의 유연성과 효율성 (Tool 설정) 을 제공합니다. 결국 E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 204-8-37-Q는 자동 웨이퍼 테스트 및 도량형 자산으로, 뛰어난 정확성과 유연성을 제공하여 고유한 요구에 맞게 모델을 구성할 수 있습니다. 50kHz 레이저 스캔 기술, 동적 비접촉 감지, 이미징 모드 등은 효율적이고 안정적인 측정 솔루션을 제공합니다. 사용자 친화적인 인터페이스와 직관적인 소프트웨어를 통해 빠르고 간편한 설치/운영을 보장할 수 있습니다.