판매용 중고 E+H METROLOGY MX 203-8-37-Q #9234105

E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 203-8-37-Q는 반도체 공정 엔지니어링에 사용하도록 특별히 설계된 매우 민감하고 정확한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 광택 검정 마무리, 사용자 인터페이스를위한 디스플레이 모듈, 다른 매개 변수 테스트/측정을 위해 8 축/센서가있는 레이어 일렉트로미터 시스템 (Layer Electrometer System) 을 갖춘 견고한 디자인이 특징입니다. 또한, 광범위한 웨이퍼 테스트 및 도량형 측정을 위해 특별한 정확성과 반복 성을 제공하도록 설계되었습니다. METROLOGY MX 203-8-37-Q는 최대 8 인치 웨이퍼 스케일까지 집적 회로를 테스트 할 수 있습니다. 여기에는 다양한 wafer, 기판, 다이오드 (diode) 및 프로그램 특정 매개변수를 분석하고 관리할 수 있는 정교한 소프트웨어 프로그램이 포함됩니다. METROLOGY E + H METROLOGY MX 203-8-37-Q는 테스트 기능 외에도 다양한 강력한 조정, 진단 및 분석 기능을 제공합니다. 다중 축 피드백 장치와 1000 A/D 단계의 교정 해상도가 있습니다. 이는 다양한 측정에 대한 최적의 정확성과 반복성을 보장합니다. METROLOGY MX 203-8-37-Q는 반도체 산업의 정확한 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 내구성이 뛰어난 비반사 알루미늄 바디 (aluminum body) 를 사용하여 환경으로부터 민감한 구성 요소를 보호합니다. 또한 25 ° C ~ 80 ° C 의 온도 변화 및 다양한 진동 수준을 처리 할 수 있습니다. 또한, 최대의 안전 및 보호를 위해, EMC 방사선을 제한하기 위해 화재 억제 장치, 전자기 간섭 필터 등 여러 내장 안전 시스템을 갖추고 있습니다. 전반적으로 E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 203-8-37-Q는 신뢰할 수있는 결과를 제공하기 위해 고효율적이고 정확하며 신뢰할 수있는 웨이퍼 테스트 및 도량형 기계입니다. 견고한 구성, 내장형 안전 시스템, 다양한 기능으로 인해 다양한 반도체 프로세스 엔지니어링 어플리케이션 (engineering application) 에 적합합니다.