판매용 중고 E+H METROLOGY MX 2012-RA-1L #9311190

E + H METROLOGY E + H METROLOGY MX 2012-RA-1L은 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 반도체 제조업체를 위한 수동/자동화된 웨이퍼 기판 (wafer substrate) 측정이 가능하므로 중요한 크기와 위치 공차가 충족됩니다. 이 시스템은 정확하고 일관된 교정 및 측정 성능을 위해 자동화된 교정 단계를 갖추고 있습니다. 이 장치는 또한 비 파괴 테스트를위한 MEI-CMOS (Micropattern and Electrical Inspection) 기계를 갖추고 있으며, 이는 측정 범위에 대해 높은 신호 대 잡음 비율을 보장합니다. 이렇게 하면 각 측정의 결과와 매우 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 이 도구는 산업 IGZO 웨이퍼에서 microelectromechanical asset (MEMS) 웨이퍼에 이르기까지 광범위한 웨이퍼를 측정 할 수 있습니다. 측정에는 임계 치수, 박막 측정, 오버레이 측정, 거시 결함 측정 및 전기 저항 테스트가 포함됩니다. 또한, 이 모델은 높은 정확도, 정밀 주사 전자 현미경 (SEM) 을 특징으로하여 광범위한 결함을 식별하고 정확하게 측정 할 수 있습니다. 또한 SEM은 매우 작은 결함을 감지하기 위해 최대 5 만 배의 높은 배율을 갖습니다. 웨이퍼 (wafers) 나 기타 반도체 기반 기판과 같은 대형 기판의 경우, 장비는 방적 디스크 폴리셔 (spinning disc polisher) 를 사용하여 프로파일 측정을 수행 할 수도 있습니다. 이렇게 하면 큰 서피스를 측정하고 분석할 수 있는 정밀도와 정밀도가 높아집니다. 이 시스템은 다양한 측정 자료 외에도 분석/보고 기능도 제공합니다. 감사를 위한 추적 가능성 (Traceability) 및 추적 가능성 (Traceability) 분석에 필요한 모든 데이터가 포함된 매우 상세한 보고서를 작성할 수 있습니다. 이 장치에는 다양한 데이터 관리 기능 (예: 이동식 미디어에 데이터를 저장하고, 컴퓨터에서 외부 컴퓨터로 데이터를 원격으로 전송하거나, 인터넷으로 데이터를 전송하는 기능) 이 있습니다. 전반적으로 E + H METROLOGY MX 2012-RA-1L은 고급적이고 정확한 웨이퍼 테스트 및 도량형 도구입니다. '데이터 관리 (data management)' 및 '보고 (reporting)' 기능을 통해 감사를 수행할 수 있는 다양한 기능을 갖추고 있습니다. 이 자산은 반도체 제조 및 테스트에 필수적인 도구입니다.