판매용 중고 DORIAN P499 #9396152

도리안 P499 (DORIAN P499) 는 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로, 반도체 산업의 집적 회로 검사 및 프로세스 분석과 같은 응용 분야를 위해 설계되었습니다. 시각적 검사 (Visual Inspection), 결함 이미징 (Defect Imaging), 전기적 특성 (Electrical Characterization) 을 자동화하고 정확성과 정확성을 저해하지 않고 포괄적인 솔루션을 제공합니다. 이 시스템은 통합된 하드웨어/소프트웨어 환경을 제공하여, 사용자가 프로세스 작업을 최적화하기 위해 통합 회로 (integrated circuit) 테스트 시퀀스를 신속하게 설정하고, 결과를 분석하고, 필요한 수정 조치를 취할 수 있도록 합니다. P499에는 초고속 CCD 이미징 장치 (CCD Imaging Unit) 가 장착되어 있어, 기존 웨이퍼 검사 도구보다 여러 배나 빠른 wafer 회로에서 집적 회로에 대한 고정밀 시각적 검사를 수행할 수 있습니다. 또한 고속 전기 프로브 (Electrical Probing) 기능을 제공하여 사용자가 디바이스의 전기 특성에 대한 정확한 매개변수를 매우 정확하게 캡처할 수 있습니다. 또한 머신에는 DRM (Defect Review Module) 이 포함되어 있으며, 한 번의 클릭으로 표면 결함을 정확하게 감지, 표시 및 분류합니다. 이 툴의 고급 데이터 분석 (advanced data analytics) 기능을 통해 사용자는 집적 회로의 다양한 물리적 (physical) 특성과 전기적 (electrical) 특성 간의 관계를 발견할 수 있습니다. 이를 통해 프로세스 최적화 기회를 신속하게 파악하고, 필요한 시정 (corrective) 조치를 취할 수 있습니다. DORIAN P499 는 Windows 기반 플랫폼에서 실행되므로 테스트 데이터에 대한 직관적인 운영 및 풍부한 분석이 가능합니다. 여기에는 GAM (Graphing and Analysis Module) 이 포함되어 있어 다채롭고 포괄적인 그래프를 쉽게 생성할 수 있으며, 이 그래프는 디바이스의 다양한 특성 간의 관계를 보여 줍니다. 이 자산은 또한 장치 데이터 저장을위한 광범위한 내장 데이터베이스 (BIST) 와 대화식 비주얼 자습서 (Interactive Visual Tutorial) 를 통해 사용자가 테스트 시퀀스를 신속하게 설정하고 결과를 검토할 수 있도록 지원합니다. 전반적으로, P499는 이러한 고급 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 (metrology) 모델에서는 거의 발견되지 않는 뛰어난 경험을 제공합니다. 따라서 사용자는 가장 정확하고 효율적인 방법으로 프로세스 작업을 신속하게 분석하고 최적화 할 수 있습니다.