판매용 중고 DNS / DAINIPPON VM-8000J #9148235

DNS / DAINIPPON VM-8000J
ID: 9148235
빈티지: 2001
Film thickness measurement system 2001 vintage.
DNS/DAINIPPON VM-8000J는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 광범위한 반도체 웨이퍼 (wafer) 및 기타 평평한 표면에 대해 고정밀도, 고속, 처리량 측정 솔루션을 제공하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 레이저 간섭법 (Laser Interferometry) 과 같은 고급 이미징 및 정렬 기술을 사용하여 웨이퍼 서피스의 정확하고 고해상도 측정을 확인합니다. DNS VM-8000J는 웨이퍼 평평, 서피스 프로파일, 서피스 스크래치, 결함 감지, 스텝 높이, 스텝 크기, 이미지 대잡음비, 서피스 거칠기 등 다양한 측정을 제공합니다. 또한 DAINIPPON VM-8000J (VM-8000J) 는 다양한 옵션을 통해 다양한 애플리케이션의 특정 요구 사항에 맞게 조정할 수 있습니다. 여기에는 다양한 렌즈 및 샘플링 조합, 사용자 정의 가능한 측정 및 설정, CCD 카메라, LED 어레이 조명 및 혁신적인 표면 측정 모듈이 포함됩니다. 또한, 이 장치는 고급 데이터/이미지 처리 기능과 더불어, 데이터 분석/보고서 작성을 위한 포괄적인 Wafer 분석 소프트웨어 패키지를 자랑합니다. 또한 고객 전용 자동화/요구 사항, 다양한 액세서리/구성요소 (Compessory and Component) 를 위한 다양한 전용 툴도 지원합니다. 이 기계에는 자동 웨이퍼 로딩, 포지셔닝, 정렬 등 다양한 기능이 있습니다. 가변 속도 동력 초점 및 측정; 자세한 검사를 위해 줌 렌즈; 광 및 수동 프로브 선택; 선택 가능한 평평 또는 프로파일 측정; 및 웨이퍼 설정 매개변수를 위한 연산자 인터페이스. 게다가, 이 도구는 매우 균일한 결과, 반복 가능성, 낮은 소음 수준을 제공하도록 설계되었습니다. 전반적으로, VM-8000J는 품질과 안정적인 성능을 제공하도록 설계된 고급 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 자산 (metrology asset) 으로, 사용자가 다양한 웨이퍼 및 표면 측정 응용 프로그램에 필요한 고밀도 결과를 얻을 수 있습니다. 직관적인 설계는 각기 다른 업종의 사용자에게 적합하며, 고객 요구 사항에 맞게 조정할 수 있는 '사용자 지정 기능' 을 제공합니다. 따라서, 이 모델은 광범위한 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 응용 프로그램에 적합한 선택입니다.
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