판매용 중고 DNS / DAINIPPON Lambda Ace VM-2200 #293664930

DNS/DAINIPPON Lambda Ace VM-2200은 반도체 재료 및 이식 특성을 측정하고 분석하는 데 사용되는 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. VM-2200 에는 멀티 존 (multi-zone) 전자 현미경과 고급 이미징 도구가 장착되어 있어 반도체 웨이퍼의 두께와 지형을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 또한, 이 기술을 통해 사용자는 재료의 전기 특성을 정확하게 결정하고, 오염 수준과 입자를 감지하고, 웨이퍼 (wafer) 의 도핑을 분석하여 공정의 불규칙성을 식별 할 수 있습니다. VM-2200 (VM-2200) 은 반도체 장치에 대한 자세한 분석 및 평가를 위해 전체 해상도 0.3 m (정밀 측정 기기) 를 갖추고 있습니다. 대용량 PC로 구동되며, 짧은 대기 시간 검색 및 고품질 그래픽 출력을 제공합니다. 이 시스템에는 또한 레이저 간섭 시스템, 스캐닝 커패시턴스 현미경 시스템, 광학 방출 및 X 선 분광계 (X-ray spectroscopic system) 와 같은 맞춤형 테스트 응용 프로그램을위한 다양한 선택적 액세서리가 포함되어 있습니다. VM-2200은 하이엔드 반도체 프로세싱의 엄격한 요구를 충족하도록 설계되었습니다. 모든 환경에서 일관되고 반복 가능한 웨이퍼 (wafer) 분석 결과를 얻을 수 있으며, 자동 분석 기능을 통해 사용자 오류 (user error) 를 줄일 수 있습니다. 또한, 사용자 친화적 인 소프트웨어는 사용이 간편하며, 다양한 유틸리티와 옵션을 제공합니다. VM-2200 은 웨이퍼 (wafer) 테스트 및 도량형 성능을 향상시키기 위해 다양한 추가 기능을 갖추고 있습니다. 공기댐퍼 (air damper) 를 내장하여 진동을 줄이고, 자동 초점 (autofocus) 을 조정하여 정확성과 해상도를 높입니다. 또한, 고급 신호 처리 알고리즘 (advanced signal processing algorithms) 은 낮은 양의 방사선을 측정하고 재료 특성의 매우 작은 차이를 감지 할 수 있습니다. 전반적으로 VM-2200 (VM-2200) 은 실험실 및 산업 응용 분야에 대한 탁월한 정확성과 해상도를 제공하도록 설계된 완전한 기능의 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 고해상도 시각화 (High-Resolution Visualization) 기능과 자동 분석 (Automated Analysis) 기능을 결합하면 결함과 불규칙성을 파악할 수 있으며 각 웨이퍼의 정확하고 안정적인 결과를 얻을 수 있습니다.