판매용 중고 CHAPMAN MP2000+ #9394595

CHAPMAN MP2000 + 은 채프먼 엔지니어링 (CHAPMAN Engineering) 이 개발한 고급 도량형 및 웨이퍼 테스트 장비로, 반도체 업계의 다양한 응용 분야 (예: 웨이퍼 테스트, 샘플 모니터링 및 실험실 연구) 를 위해 개발되었습니다. 이 시스템은 제조 과정에서 반도체 웨이퍼의 기능을 측정하는 효율적인 고해상도 (high-resolution) 솔루션을 제공합니다. 이 장치는 정교한 하드웨어 및 소프트웨어 구성 요소와 결합된 완전 자동화 스테이지로 구성됩니다. 또한 정확한 이미지 캡처를 위한 고해상도 CCD 센서가 포함되어 있습니다. 이 기계는 강력한 이미지 처리 기능을 통해 우수한 테스트 결과를 제공합니다. 정확한 샘플 매핑, 정렬 및 등록을 보장하기 위해 고속 전동 웨이퍼 척 (wafer chuck) 이 장착되어 있습니다. 이러한 기능 외에도, 이 도구는 고급 소프트웨어 알고리즘 (advanced software algorithm) 의 이점을 얻어 여러 샘플 유형에 대한 정확한 도량형 및 웨이퍼 테스트를 가능하게합니다. MP2000 + 은 온도 변동, 습도, 대기 오염 등 어려운 환경 조건에 견딜 수 있도록 설계되었습니다. 이는 현장 및 프로덕션 설정에서 안정적인 샘플링을 보장합니다. 자산의 큰 작업 영역은 가장 까다로운 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 요구 사항에도 적합합니다. 이 모델에는 고급 스캐닝 소프트웨어 (3D 모서리 감지, 입자 이미지 분석 기능, 강력한 통계 분석 도구 포함) 가 장착되어 있습니다. 이를 통해 데이터 (data) 에 대한 자세한 분석 및 wafer 의 성능을 기록한 Report 를 생성할 수 있습니다. 또한 사용자는 종합적인 그래픽 출력을 제공합니다. 즉, 사용자 자체 분석 또는 사후 처리 (post-processing) 에 의해 얻어진 그래픽 결과를 포함하도록 사용자 정의할 수 있습니다. CHAPMAN MP2000 + 은 다양한 wafer 테스트 어플리케이션에 이상적인 솔루션으로, 안정성, 정확성, 유연성의 조합을 제공합니다. 고해상도 CCD 센서와 강력한 이미지 프로세싱 (image-processing) 기능으로, 웨이퍼 테스트에서 높은 정도의 정확도가 필요한 어플리케이션에 이상적인 장비입니다. 또한, 완전하게 자동화된 Stage 및 소프트웨어 알고리즘은 높은 처리량과 유연성을 제공하며, 이는 종종 까다로운 Wafer 테스트 요구사항에 필요합니다.