판매용 중고 CHAPMAN MP2000 #9106124

CHAPMAN MP2000 Wafer Testing and Metrology Equipment (CHAPMAN MP2000 Wafer Testing and Metrology Equipment) 는 최고의 제조 정밀도 및 성능을 보장하기 위해 웨이퍼 테스트 및 도량형을 수행하도록 설계된 고급 자동 시스템입니다. 정밀도 및 반복 가능성이 높은 웨이퍼의 실험실 등급 도량형 테스트를위한 초고정밀, 비 접촉 측정 장치 (non-contact measuration unit) 를 제공합니다. MP2000은 웨이퍼 테이블, 전동 포지셔너, 도량형 관리자 (metrology manager) 를 포함하는 통합 기계입니다. 웨이퍼 테이블은 크기와 두께가 서로 다른 최대 20개의 웨이퍼를 지원합니다. 전동 포지셔너 (Motorized Positioner) 는 균일 한 광학 검사를 위해 고정 광학 헤드 (Stationary Optical Head) 아래 웨이퍼를 정확하고 반복적으로 배치 할 수 있습니다. 도량형 관리자 (metrology manager) 를 사용하면 전동식 포지셔너와 광학 헤드의 동작을 자동으로 제어하고 동기화할 수 있습니다. CHAPMAN MP2000에는 고정밀 도량형을 제공하기 위해 여러 가지 고급 기술이 있습니다. 고해상도 이미지를 캡처하는 동적 5 ~ 50 배율 범위와 10 비트 RGB CCD 카메라를 제공하는 광학 현미경이 장착되어 있습니다. MP2000은 또한 1/200mm 정확도로 반복 가능한 비 접촉 측정을 생성하는 고급, 특허 반사도 수정 기술을 갖추고 있습니다. CHAPMAN MP2000 의 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 도량형 테스트 절차를 간소화하여 wafer 의 여러 영역을 분 단위로 측정할 수 있습니다. 사용자 친화적 인 소프트웨어로 프로그래밍, 운영, 분석 (analysis) 이 이전보다 쉬워졌으며, 이 툴의 확장성은 변화하는 요구 사항에 대응하여 자산을 확장하고 사용자 정의할 수 있게 해 줍니다. MP2000 은 포괄적인 글로벌 서비스 및 지원과 더불어 완벽한 데이터 추적 가능성, 반복 가능성, 정확성을 제공합니다. 와퍼 테스트 (wafer testing) 에 대한 엄격한 업계 표준을 충족하고 반도체· 광전자산업 (optoelectronic industries) 의 품질 보증을 위한 귀중한 도구다.