판매용 중고 CDE Resmap 363 #9202949

CDE Resmap 363은 무접촉 웨이퍼 테스트 및 도량형을 수행하는 강력하고 안정적인 도량형 장비입니다. 고급 광학 및 레이저 기반 검사 기술을 사용하여 정밀도가 높은 웨이퍼 표면 기능을 정확하게 측정하고 평가합니다. 시스템은 중요 치수 (CD) 측정, 결함 검사, 오버레이 및 CDU (full-field critical dimension uniformity) 를 포함한 다양한 응용 프로그램을 지원합니다. Resmap 363 레이저 스캐닝 플랫폼은 나노 미터 (nano-meter) 와 같은 훨씬 작은 기능 크기와 하위 미크론 크기로 사용하도록 설계되었습니다. 이를 통해 최첨단 반도체 기술을 위한 웨이퍼 테스트 및 도량형에 이상적인 솔루션이 됩니다. 이 장치는 광학 (optical) 및 레이저 (laser) 기반 알고리즘을 모두 사용하여 고정밀도 (high precision) 까지 안정적으로 측정할 수 있으며 유연하고 강력한 기능 설정과 통계 분석을 제공하는 고급 소프트웨어 엔진이 장착되어 있습니다. 또한 다양한 업계 표준 (Industry Standard) 출력 형식을 지원하므로 다른 시스템 및 데이터 처리 플랫폼과 손쉽게 통합할 수 있습니다. 이 기계는 빠른 샘플 처리 (sample handling) 및 빠른 데이터 획득 속도로 높은 처리량을 위해 제작되었습니다. 또한 "미리 보기 (look-ahead)" 기능을 사용하여 높은 처리량을 지원합니다. 이 기능을 사용하면 실제로 측정되기 전에 데이터의 패턴을 식별하고 예측할 수 있습니다. 또한 CDE Resmap 363 에는 결함 이미지 인식, 데이터 기반 Litho/Alignment-Map, 전체 분야에 걸쳐 정렬과 초점을 맞추기 위한 자동 기능 등 자동화된 컨트롤이 장착되어 있습니다. 리스맵 363 (Resmap 363) 은 다양한 애플리케이션과 기능을 제공하며 웨이퍼 테스트 및 도량형에서 높은 정확성과 빠른 속도를 제공합니다. 고급 옵틱 (optic) 및 레이저 기반 기술은 탁월한 성능, 효율성, 신뢰성을 제공하며, 자산의 광범위한 기능과 자동화 기능을 통해 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형을 위한 효과적이고 안정적인 솔루션이 됩니다.