판매용 중고 CDE RESMAP 178 #293821805

CDE RESMAP 178은 도량형 시스템의 국제 공급 업체 인 CDE에서 설계 및 제조 한 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이름 그대로, CDE RESMAP178은 다양한 도량형 및 결함 특성 (characterization) 기능을 제공하는 다목적 시스템입니다. RESMAP 178은 밝은 필드 및 어두운 필드 캡처 이미지를 포함하여 다양한 고성능 CCD (Charge-Coupled Device) 이미징 기술을 제공합니다. 이러한 이미지를 사용하여 웨이퍼 결함 (wafer defect) 의 크기와 모양, 기타 서피스 피쳐를 감지하고 측정할 수 있습니다. 또한, RESMAP178 은 사용자의 특정 요구에 맞게 사용자 정의할 수 있는 고급 이미지 처리 (advanced image processing) 알고리즘을 제공합니다. 이 장치의 전기 테스트 (Electrical Test) 기능은 웨이퍼에서 정적 및/또는 동적 전기 테스트 (Dynamic Electrical Test) 의 성능을 허용합니다. 이 테스트의 조합을 사용하여, 사용자는 웨이퍼 (wafer) 결함을 식별하고 전송 중인 전기 신호의 특성을 결정할 수 있습니다. 또한, CDE RESMAP 178의 고정밀, 다중 채널 전위계는 주어진 범위의 전기 매개변수에 대해 장치에 적용되는 전압 및 전류의 정확한 측정을 가능하게한다. CDE RESMAP178의 또 다른 주요 강점은 강력한 웨이퍼 처리 기능입니다. 기계는 다양한 웨이퍼 크기, 유형 및 두께를 수용합니다. 또한 고유한 자동 웨이퍼 로딩 메커니즘을 통해 더 빠르고 쉬운 웨이퍼 로딩 및 언로드가 가능합니다. wafer-handling 매개변수를 수동으로 세밀하게 조정할 필요가 없습니다. 마지막으로 RESMAP 178은 포괄적인 DBMS (데이터베이스 관리 도구) 및 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 완벽한 연결을 제공합니다. 이를 통해 사용자는 테스트 결과를 저장, 관리할 수 있으며, 이를 통해 새로운 방법을 개발하고 제품 품질 (product quality) 을 향상시킬 수 있습니다. 또한, DBMS 및 GUI 는 사용자 지정 기능이 뛰어나, 사용자가 특정한 요구에 맞게 자산을 조정할 수 있습니다. 전반적으로, RESMAP178 (RESMAP178) 은 정확하고 안정적인 웨이퍼 측정과 결함 특성을 수행 할 수있는 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 모델입니다. 반도체 업계의 품질과 신뢰성을 보장할 수 있는 매우 유용한 툴로 자리잡았습니다 (영문).