판매용 중고 AXIC 100 II #62113

AXIC 100 II 는 강력한 on-wafer 테스트 기능을 제공하도록 설계된 고급 wafer 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 고성능 프로브 (Probing) 및 도량형 (Metrology) 기술을 통해 전기 및 물리적 매개변수에 대해 정확하고, 정확하며, 신뢰할 수 있는 측정값을 제공하여 사용자가 최상의 결과를 얻을 수 있도록 합니다. 웨이퍼 매핑 (wafer mapping), 결함 측정 (defect measurements), 장치 특성 (device characterization) 등 다양한 유형의 웨이퍼 테스트에 적합하므로 사용자가 안정적이고 효율적인 제품을 개발할 수 있습니다. 100 II는 매우 높은 해상도의 3D 프로파일 스캐너 (3D Profile Scanner) 와 완전하게 자동화된 로컬 계측 장치 (Local Metrology Unit) 를 갖춘 통합 TruSem 모듈을 통해 다양한 매개변수에 대한 정확하고 빠른 측정을 제공합니다. TruSem을 사용하면 서피스 거칠기, 에치 깊이, 피치, 릴리프와 같은 중요한 물리적 특성을 쉽게 측정할 수 있습니다. 또한 이 머신에는 복잡한 프로파일을 만들고 보다 상세한 측정을 수행할 수 있는 강력한 고급 소프트웨어 (Advanced Software) 툴이 포함되어 있습니다. AXIC 100 II 에는 초고속 용량 측정 및 빠른 켈빈 (Kelvin) 테스트 기능을 제공하는 통합 패라메트릭 프로빙 플랫폼도 포함되어 있습니다. 이를 통해 사용자는 재료 및 장치의 물리적, 전기적 특성을 정확하고, 빠르고, 쉽게 측정 할 수 있습니다. 이 도구에는 고급 die-to-die 오버레이 기술도 탑재되어 있어, 장치 오버레이 성능을 최적화할 수 있습니다. 마지막으로, 사용자 친화적이고 직관적인 소프트웨어 환경을 사용하면 쉽게 자산을 구성하고, 보다 빠르고, 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 또한, 100 II의 그래픽 인터페이스가 잘 채택되어 있으며, 이 모델을 탐색하기 매우 쉽습니다. 강력한 고급 기술과 안정적인 성능을 갖춘 AXIC 100 II 는 모든 Wafer Testing 및 Metrology 요구 사항에 적합한 솔루션입니다.