판매용 중고 ASML Yieldstar S200B #9245628

ASML Yieldstar S200B
ID: 9245628
웨이퍼 크기: 12"
Overlay measurement system, 12".
ASML Yieldstar S200B는 웨이퍼 매개변수를 측정하고 석판 제작을위한 테스트 패턴을 평가하기 위해 설계된 고정밀 도량형 장비입니다. 사용자는 CD (Critical Dimensions), LWR (Line Width Roughness), CO (Critical Orientation) 등 웨이퍼 제조 프로세스의 품질을 분석할 수 있습니다. 측정 장치에는 정확한 샘플 전송 및 정렬을 위한 1 단계 전송 로봇, 100x/10x/0.45 수치 조리개 목표를 가진 광학 헤드, 샘플 캡처 및 자동 초점 제어를 위한 XYZ 스테이지, 고급 화질을 제공하는 고해상도 LCD 모니터 등이 있습니다. YieldStar (YieldStar) 는 또한 조정 가능한 조명과 정확한 기판 척을 특징으로하여 테스트 된 웨이퍼의 반사를 제거합니다. 이 기계의 이미지 처리 기능에는 컬러 이미징, 디지털 회색 음영 이미징, 이미지 비교, 기본 패턴 인식 및 CD 도량형이 포함됩니다. 또한 다양한 패턴 분석 도구 및 고급 기능 (예: 패턴 검색, 고해상도 기능 추출 및 분석) 을 제공합니다. Yieldstar S200B 도구는 자동 정렬 및 측정 기술의 조합을 통해 안정적이고 정확한 분석을 제공합니다. 이러한 기능은 nano-bump metrology, single device isolation/characterization 및 microvias/interconnects 분석과 같은 응용 분야에서 특히 유용합니다. 이 에셋은 또한 전체 측정/분석 프로세스를 완벽하게 제어하는 소프트웨어 제품군 (Software Suite) 을 갖추고 있으며, 테스트 결과를 빠르고 편리하게 처리하고 보고서를 생성할 수 있습니다. 다재다능한 기능을 갖춘 YieldStar는 반도체 업계의 다양한 응용 프로그램 (예: 웨이퍼 특성 변동 분석, 결함 감지 및 특성 분석, 제조 프로세스 개발 및 최적화) 에 이상적입니다.
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