판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D #293668731

AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 고급 도구입니다. 연구실, 반도체 제조업체, 공정 엔지니어가 반도체 웨이퍼, 솔리드 스테이트 메모리 칩, 기타 반도체 장치의 3 차원 기능을 정확하게 측정하고 특성화하기 위해 사용합니다. AMAT VeraSEM 3D 시스템은 MetaSEM G4 고해상도 SEM (Scanning Electron Microscope) cryo-cooled 표본보기, MetaSEM Magnetron Sputtering Station 및 High Resolution Optical Microscope를 포함한 여러 구성 요소로 구성됩니다. SEM은 전자 빔 (electron beam) 기술을 사용하여 검사 중인 웨이퍼 또는 장치의 정확한 기능을 식별합니다. MetaSEM G4 고해상도 SEM cryo-cooled 표본 챔버는 샘플 온도 및 작동 조건을 정확하게 제어합니다. 마그네트론 스퍼터링 스테이션 (magnetron sputtering station) 은 영상 전에 얇은 필름을 웨이퍼에 배치하는 데 사용됩니다. 고해상도 광학 현미경 (optical microscope) 을 사용하면 샘플의 지형과 표면 거칠기를 정확하게 검사하고 측정할 수 있습니다. APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D에는 이러한 구성 요소 외에도 Stereology Analysis Unit, Automated Sample Preparation Machine 및 Pattern Recognition Software와 같은 다양한 고급 소프트웨어 및 하드웨어 시스템이 포함되어 있습니다. Stereology Analysis Tool (Stereology Analysis Tool) 은 웨이퍼에 있는 피쳐의 크기, 모양, 방향 등 웨이퍼의 피쳐를 자동으로 식별하는 데 사용됩니다. 자동화된 샘플 준비 자산 (Automated Sample Preparation Asset) 을 사용하면 이미징 샘플을 빠르고 정확하게 준비할 수 있습니다. 패턴 인식 소프트웨어 (Pattern Recognition Software) 는 웨이퍼의 다이오드 또는 트랜지스터 패턴과 같은 패턴을 식별하는 데 사용됩니다. VeraSEM 3D Wafer Testing and Metrology Model은 연구소, 반도체 제조업체 및 프로세스 엔지니어에게 귀중한 자원입니다. Wafer 및 기타 반도체 장치의 빠르고, 정확하며, 신뢰할 수 있는 측정 및 특성을 제공합니다. 고급 구성 요소와 소프트웨어 덕분에 AMAT/APPLIED MATERIALS VeraSEM 3D 는 웨이퍼의 정확한 기능을 파악하고 이미징을 위한 샘플을 신속하게 준비할 수 있습니다. 이 장비는 반도체 장치 제작 및 검사에 필수적인 도구입니다.