판매용 중고 AMAT / APPLIED MATERIALS Reticle SEM #9249417

AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle SEM은 반도체 제조 및 연구를 위해 특별히 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. AMAT 레티클 SEM (AMAT Reticle SEM) 은 스캐닝 전자 현미경으로, 중요한 수준의 웨이퍼 표면 세부 사항 및 조건을 정확하게 측정하고 분석 할 수 있습니다. 이 SEM은 매우 정밀하고 정확하게 물리적 특징과 결함을 감지하고 측정할 수 있습니다. SEM은 서피스에 대한 정적 (static) 및 동적 (dynamic) 분석을 허용하며, 주변 환경 및 기타 변수와 관련된 변경 사항을 측정 및 분석할 수 있습니다. APPLIED MATERIALS Reticle SEM을 사용하면 다양한 웨이퍼 서피스 결함 검사, 특성 및 분석을 수행할 수 있습니다. 표면 형태, 중요 크기, 전기 특성, 화학 구성 등과 관련된 데이터를 캡처, 기록 및 처리 할 수 있습니다. 이 SEM은 웨이퍼 및 기타 반도체 도량형 응용 프로그램을 위해 특별히 설계되었습니다. 이 시스템에는 강력하고 최적화된 전자 광학 장치 (Optics Unit) 가 포함되어 있어 향상된 해상도 기능으로 뛰어난 고대비 이미징 기능을 제공합니다. 또한 통합 자동 XYZ 단계 포지셔닝 시스템 (XYZ Stage Positioning Machine) 을 통해 짧은 기간 내에 Wafer 데이터 수집 및 분석을 자동화할 수 있습니다. SEM (Open Architecture) 은 다양한 기술 및 프로세스 요구 사항을 충족할 수 있도록 도구 사용자 정의의 유연성을 제공하는 개방형 아키텍처를 사용합니다. 유연하고 모듈식 (Flexible) 설계는 사용자가 직접 테스트 설정 및 데이터 획득 계획을 구성할 수 있는 이상적인 환경을 제공합니다. 레티클 셈 (Reticle SEM) 은 또한 더 큰 측정, 향상된 이미징, 향상된 정확성을 위해 쉽게 사용자 정의 할 수있는 고급 기기와 분석 기능을 갖춘 엔드 유저 (End User) 의 요구에 적합합니다. 또한, AMAT/APPLIED MATERIALS Reticle SEM은 자동화를 위해 설계되어, 사용자가 무인 테스트를 실행하도록 트리거할 수 있는 미리 정해진 분석 계획을 만들 수 있습니다. 한눈에 볼 때, AMAT Reticle SEM은 반도체 웨이퍼 및 레티클 도량형을위한 강력하고 다재다능한 도구입니다. 다양한 어플리케이션에서 뛰어난 처리량과 반복성을 제공하여 뛰어난 고해상도 이미징 (High-Resolution Imaging) 및 고밀도 (High-Precision) 측정치를 제공합니다. 이 정교한 머신을 통해 운영자는 데이터를 손쉽게 캡처, 기록, 처리할 수 있습니다. 또한 유연한 아키텍처와 통합형 XYZ 포지셔닝 자산은 운영자에게 다양한 애플리케이션에 적합한 수준의 사용자 지정 기능과 자동화 (automation) 를 제공합니다.