판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT E3160-66522 #191012

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT E3160-66522 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템은 반도체 및 기타 업계의 테스트 및 생산 과정에서 웨이퍼를 빠르고 정확하고 안정적으로 측정하도록 설계되었습니다. 통합 광학 현미경, CCD (Charge-Coupled Device) 스캔 및 HP E3160-66522를 쉽게 작동시킬 수있는 고유한 사용자 친화적 인 사용자 인터페이스가 특징입니다. 현미경은 다양한 테스트 조건에 대한 웨이퍼의 자동 포지셔닝을 용이하게하는 동력 단계 (motorized stage) 를 가지고 있습니다. 이를 통해 처리량, 빠른 측정 및 데이터 수집을 극대화할 수 있습니다. CCD 스캐너는 다양한 웨이퍼 서피스 (Wafer Surface) 기능의 데이터를 캡처할 때 현미경으로 처리량이 높고 소음이 적습니다. 또한 CCD 스캐너에는 뛰어난 반복 가능성, 정확성 및 해상도를 제공하는 몇 가지 내장 이미징 옵션이 있습니다. 사용자 인터페이스는 간편한 포인트 앤 클릭 (point-and-click) 인터페이스를 통해 운영자가 시스템의 기능과 기능을 빠르고 쉽게 이해할 수 있도록 합니다. 또한, 사용자에게 친숙한 디스플레이는 사용자에게 테스트 매개변수 (test parameter) 와 결과에 대한 최신 정보를 신속하게 제공하는 데 도움이 됩니다. AGILENT E3160-66522는 두 개의 주요 외부 컨트롤러 (CPU 마더보드 및 I/O 보드) 를 사용하여 작동합니다. CPU 보드에는 메모리, 프로세서 및 외부 I/O 카드가 포함되어 있습니다. 마더보드의 CPU는 강력한 32비트 프로세서를 제공하며, 정교한 테스트 알고리즘을 실행할 수 있습니다. 한편, I/O 보드는 하이엔드 도량형 (High End Metrology) 의 요구를 충족시켜 다양한 센서 및 컨트롤러에 대한 연결 및 인터페이스 유연성을 제공합니다. 전반적으로 E3160-66522 시스템은 사용자 친화적 인 인터페이스를 제공하면서 다른 테스트 및 프로덕션 환경에서 빠르고, 정확하고, 신뢰할 수 있는 웨이퍼 측정을 제공합니다. 웨이퍼 테스트 및 도량형 요구에 이상적인 솔루션입니다.