판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 4280A #9375783

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 4280A Wafer Testing and Metrology Equipment는 반도체 웨이퍼 제조에 사용하기 위한 정교한 고성능 테스트 및 계측 장치입니다. 정밀도, 정확도, 속도로 실리콘 웨이퍼의 물리적, 전기적, 전기적 특성을 측정하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 도핑 프로파일 링, 전기 특성, 결함 및 파라 메트릭 테스트, 표면 거칠기 분석, 산화 테스트, 포토 esist 테스트, 수분 테스트 및 결함 검사와 같은 다양한 측정 기능을 제공합니다. 이 장치에는 웨이퍼 지형 및 표면 기능의 직접 이미징을위한 빠른 스캔, 광역 이미징 및 도량형 장치가 포함됩니다. 도량형 공구 세트 (Metrology Toolset) 는 산화물 두께, 도펀트 강수 및 표면 지형에 대한 자세한 치수 측정을 제공합니다. Electrical Test Toolset은 반도체 웨이퍼에 빠르고 정확한 전기 성능 및 전기 파라 메트릭 테스트 기능을 제공합니다. 이 기계에는 개별 칩 성능을 측정하기위한 Microelectronics Parametric Testing Toolset도 포함되어 있습니다. HP 4280A Wafer Testing and Metrology Tool은 반도체 웨이퍼의 테스트 및 특성화에서 최대의 정확성과 정확성을 제공하도록 설계되었습니다. 고급 소프트웨어 기능과 사용자 인터페이스 (User Interface) 를 통해 복잡한 전기/물리적 특성을 쉽게 식별, 측정 및 시뮬레이션할 수 있습니다. 자산에는 통합 환경 챔버 (Environmental Chamber) 가 장착되어 있어 웨이퍼 특성의 온도 테스트가 가능합니다. 이 챔버는 R&D 실험실 또는 생산 환경에서 테스트 조건을 시뮬레이션하는 데에도 사용될 수 있습니다. 이 모델은 또한 와퍼의 결함 및 결함의 심도 측정을 위해 최첨단 비디오 현미경을 통합합니다. 따라서 "웨이퍼 '를 신체적 으로 만질 필요 없이 정확 한 결함 깊이 측정 을 할 수 있으며, 그것 은" 웨이퍼' 의 오염 이나 손상 의 위험 을 최소화 한다. AGILENT 4280A Wafer Testing and Metrology Equipment는 정확하고 상세한 Wafer Metrology 및 Test 데이터가 필요한 사람들을 위해 다용도 다목적 장치입니다. 사용자에게 친숙한 환경, 빠른 처리 속도, 종합적인 도량형 및 전기적 패라메트릭 특성을 제공합니다. 이 제품은 다양한 기능과 옵션으로, 모든 반도체 제작 설비에 적합한 선택입니다.