판매용 중고 ADE / KLA / TENCOR MicRhoSense 6035 #9301391
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ADE/KLA/TENCOR MicRhoSense 6035는 기존 또는 고급 기판의 다양한 마이크로 및 나노 스케일 구성 요소를 측정하고 검사하도록 설계된 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 성능 및 내구성을 평가할 때 프로세서, 메모리 칩 (memory chip) 및 기타 부품을 검사하는 데 특히 유용합니다. 이 장치는 전압, 전류, 커패시턴스 및 저항과 같은 전기 특성을 측정 할 수 있습니다. 이 기계는 또한 현미경, 반사율 이미징, 타원량과 같은 광학 측정을 수행 할 수 있습니다. 또한 공구는 선 너비, 선폭 변형, 임계 치수, 피치, 오버레이, CD-SEM 및 FinFET 패턴화와 같은 피쳐를 분석할 수 있습니다. 자산은 기존의 광학 및 전기 테스트 외에도 3D 이미징 (Imaging) 이 가능하여 마이크로 및 나노 스케일 (Nano Scale) 기능의 프로파일을 정확하게 측정 할 수 있습니다. 3D 이미징은 지형, 프로파일 분석, 깊이 측정, 서피스 특성, 스트레스 매핑 등의 측정에 사용할 수 있습니다. ADE MicRhoSense 6035에는 고속 256비트 고밀도 이미징 칩이 있습니다. 이 최첨단 이미지 처리 기술은 미세한 이미지를 빠르고 정확하게 캡처하고 분석할 수 있으며, 이를 통해 미세 및 나노 (nano) 규모의 구성요소에 대한 빠르고 효율적인 테스트 및 도량형을 구현할 수 있습니다. 이 모델에는 독점 에너지 필터가 장착되어 있어 원자력 현미경 (AFM) 이미지를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 에너지 필터는 표면 지형, 곡물 구조 및 거칠기를 측정하는 데 사용될 수 있습니다. 이 장비는 또한 이미징 데이터의 실시간 디지털 신호 처리를 위해 고속 디지털 신호 프로세서 (DSP) 를 갖추고 있습니다. 이 시스템은 사용자에게 편리하며 터치스크린 인터페이스 (touchscreen interface) 를 통해 다양한 기능을 쉽고 빠르게 탐색할 수 있습니다. 이 장치는 연구 개발 (research and development) 에서 마이크로 및 나노 스케일 (micro- and nanoscale) 부품의 일상적인 테스트에 이르기까지 다양한 응용 프로그램에 적합합니다. 전반적으로 KLA MicRhoSense 6035는 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 기계로, 마이크로 및 나노 스케일 구성 요소를 빠르고 정확하게 측정 및 분석 할 수 있습니다. 효율적이고 전문화 된 이미징 기능은이 도구가 일상적인 칩 (chip) 생산에서 연구 및 개발에 이르기까지 다양한 응용 프로그램에 이상적입니다.
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