판매용 중고 ADE / KLA / TENCOR 9500 #9193767

ID: 9193767
Spare parts for probe and its controller.
ADE/KLA/TENCOR 9500 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템은 광범위한 반도체 기술을 위한 고급 테스트 기능을 제공합니다. ADE 9500에는 경량, 평면 패널 설계, 강력한 모터가 장착되어 있어 탁월한 웨이퍼 정렬 정확도와 고속 스캐닝이 가능합니다. 이 시스템에는 빠르고 정확한 결함 감지를 위한 고감도, 고해상도 레이저가 장착되어 있습니다. KLA 9500의 고급 이미지 스캔 광학은 5배 이상의 하위 미크론 결함을 자동으로 감지하고 인식하는 반면, 100Mpixel CCD 카메라는 광역 이미지와 고배율 픽셀을 모두 캡처합니다. 또한, 하향식, 레이저 기반 초점 검사 기술은 이미지 캡처 및 측정을 지원합니다. 이 시스템은 종합적인 테스트 제품군의 일부로 종합적인 YieldStar-APC 및 Critical Dimension 웨이퍼 테스트를 수행 할 수 있습니다. YieldStar-APC는 전체 프로세스 적용 범위와 강력한 프로세스 장애 상관 관계를 위해 칩 수준의 중요 기능을 평가합니다. 임계 치수 테스트 제품군은 모서리 전용, 비스듬한, 영역 및 라운드 측정을 포함한 포괄적인 측정을 제공합니다. 다양한 환경에서 일관된 성능을 보장하기 위해 TENCOR 9500 (TENCOR 9500) 은 테스트 목적으로 다양한 가스 구성, 압력 및 습도 수준을 수용하도록 조정할 수 있습니다. 9500 의 모듈식 아키텍처를 사용하면 손쉽게 확장할 수 있으며, 필요에 따라 업그레이드, 수정, 맞춤식 구성을 수행할 수 있습니다. 보다 빠르고 효율적인 작업을 위한 직관적인 컨트롤 (control) 과 메뉴 탐색 (navigation) 을 통해 사용하기 쉽도록 설계되었습니다. ADE/KLA/TENCOR 9500 은 Wafer Probe 테스트, Metrology 애플리케이션, 프로세스 모니터링 등 다양한 애플리케이션에 적합한 경제적인 솔루션입니다. 고급 기능은 신뢰성, 고품질 결과를 보장하며, 정확하고 비용 효율적인 테스트 솔루션을 찾는 제조업체에 적합한 솔루션입니다.
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