판매용 중고 ADE / KLA / TENCOR 7000 #9088198

ADE/KLA/TENCOR 7000은 시장에서 가장 진보적이고 혁신적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템 중 하나입니다. 이 장비는 프로덕션 테스트, 웨이퍼 (wafer) 특성, 결함 감지, 장애 분석 (failure analysis) 등 다양한 작업에 사용됩니다. 이 시스템은 박막 기판, 평면 패널 디스플레이, 마이크로 일렉트로닉 (microelectronics) 등 다양한 웨이퍼에서 웨이퍼 테스트 및 도량형 프로세스를 수행 할 수 있습니다. ADE 7000을 사용하여 플랫, 프로파일, 두께 등의 웨이퍼 서피스 특성을 정확하게 측정할 수 있습니다. 고급 웨이퍼 프로브 장치 (Wafer Probing Unit) 는 정확한 센서 프로브 기술을 통해 수용 속도와 정확도를 높입니다. 기계는 피치 변형, 입자 오염, 서피스 거칠기와 같은 결함을 신속하게 감지 할 수 있습니다. 또한 뛰어난 단일 이미지 분석을 통해 종합적인 3D 이미징 및 구성 요소 분석을 제공합니다. 이 도구는 또한 향상된 평면, 결함 감지, 결함 위치, 처리량 등 다양한 도량형 이점을 제공합니다. 이러한 기능을 사용하면 하나 이상의 매개변수에 대한 웨이퍼 샘플을 동시에 효율적으로 분석할 수 있습니다. 또한, 자산은 거칠기, 저항력 및 가벼운 산란을 분석하고 측정 할 수 있습니다. 또한, 지형 차이점과 결함 핫스팟을 식별하기 위해 3 차원 표면 이미징 및 스캔 평면 측정을 제공합니다. 전력 소비량 면에서 클라 7000 (KLA 7000) 은 전력 요구량이 적고 기존 테스트 및 도량형 시스템보다 최대 10 배나 빠른 성능을 제공하도록 설계되었습니다. 이 모델에는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 가 장착되어 있어 간편한 탐색 및 작동이 가능합니다. 이 사용자 친화적 워크플로우를 통해 복잡한 웨이퍼 (wafer) 처리 작업을 효율적이고 반복적으로 수행할 수 있습니다. 전반적으로, TENCOR 7000은 정확하고 안정적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 결과를 효율적인 방식으로 제공하도록 설계되었습니다. 고급 기능과 기능으로 인해 웨이퍼 (wafer) 제조업체와 품질 보증 전문가를 위해 귀중한 원조가 됩니다. 높은 수준의 분석 기능과 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface), 전력 소비량 (power consumption) 을 결합한 이 장비는 시장에서 가장 정확하고 신뢰할 수 있는 웨이퍼 (wafer) 테스트 및 도량형 결과를 제공할 수 있습니다.