판매용 중고 ADE / KLA / TENCOR 350 #198751

ADE/KLA/TENCOR 350은 반도체 제품의 심각한 결함을 식별하기 위해 정교하고 안정적인 분석을 제공하는 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. PCB, 자동차, 마이크로 장치, 광자 산업의 엔지니어, 연구원들이 사용하는 가장 신뢰할 수있는 시스템 중 하나입니다. ADE 350 은 주사 전자 현미경 (scanning electron microscope) 과 매우 민감 한 광학 현미경 (optical microscope) 을 특징 으로, 지표 의 특징 및 웨이퍼 의 물리적 특성 을 상세 히 측정 할 수 있다. 특수한 시각적 검사 기능 (Special Visual Inspection Function) 을 통해 사용자가 Wafer 의 Surface 를 검사하거나 구성 요소 간의 인터페이스를 검사할 수 있습니다. 이 기능을 사용하여 Wafer 의 Surface 를 검사할 수 있습니다. 또한, 시스템은 연산자가 배율을 조정하여 웨이퍼 (wafer) 의 표면과 형상을 더 정확하게 측정 할 수 있도록 합니다. 또한 정교한 모니터링 및 분석 기능 (monitoring and analysis function) 을 통해 테스트 대상 제품의 성능에서 계절적, 장기적, 지속적인 추세를 모니터링할 수 있습니다. 여기에는 패턴 인식 (pattern recognition) 기술을 사용하여 변경 사항이나 결함을 감지하는 것이 포함되며, 이는 잠재적 실패를 나타내는 것일 수 있습니다. 또한, KLA 350은 결함의 존재를 나타낼 수있는 기계 불규칙성 또는 드리프트 소스를 식별하는 강력한 통계 분석 기능을 가지고 있습니다. 또한 350 에는 "레이저 '안전 관리, RF 차폐, 자산오작동 시 비상 정지 도구 등 여러 가지 유용 한 안전 기능 이 들어 있다. 또한, 이 모델에는 자동 장비 제어 장비 (Automatic Equipment Control Equips) 를 사용하여 테스트 중인 웨이퍼 (Wafer) 의 진위를 확인하고 해당 응용 프로그램에 대해 기계의 매개변수가 최적인지 확인할 수 있습니다. 이 시스템은 또한 지능형 이미징 장치 (Intelligent Imaging Unit) 를 갖추고 있으며, 개별 결함의 빠르고 정확한 분류에 사용할 수 있습니다. 또한, 이 기계는 다양한 업계 표준 소프트웨어 툴과 호환되며, 다수의 로봇 (robotics) 및 자동화 시스템 (automation system) 과 쉽게 통합될 수 있습니다. 전반적으로, TENCOR 350은 탁월한 성능과 안정성을 제공하는, 강력하고 안정적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 도구입니다. 첨단 기능, 신뢰할 수 있는 분석 기능, 기존 시스템과의 광범위한 호환성 등으로 인해 다양한 업종에 적합한 솔루션이 될 수 있습니다 (영문).