판매용 중고 ACCRETECH / TSK JP/E-RM-S07A #293637884

TSK JP/E-RM-S07A는 반도체 생산 환경에서 품질 보증을 제공하기 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 검사 및 분석 장치, 통합 탐지 및 측정 장치, 제어 및 통신 장치 (Control and Communication Unit) 로 구성됩니다. 검사 및 분석 장치 (Inspection and Analysis Unit) 는 가공을 위해 전송되기 전에 원시 웨이퍼의 초기 품질 보증을 담당합니다. 이 장치는 고급 이미징 (advanced imaging) 기술을 사용하여 들어오는 각 웨이퍼 면의 고해상도 이미지를 캡처하여 자세한 품질을 검사할 수 있습니다. 통합 탐지 및 측정 단위는 도량형 검사가 수행되는 곳입니다. 여기에는 기계식 암 (mechanical arm) 과 다양한 센서 (sensor) 가 포함되어 있으며, 전체 모양과 크기에서 개별 요소 매개변수에 이르기까지 다양한 웨이퍼 특성을 측정합니다. 이 장치는 또한 높은 정확도의 이미징 추적 (image tracking) 을 가능하며, 이를 통해 결함 특성을 정확하게 시각화할 수 있습니다. 마지막으로, 장치의 제어 및 통신 장치 (Control and Communication Unit) 는 다른 두 장치에서 데이터를 수집하여 데이터베이스나 다른 외부 소프트웨어 시스템으로 전송합니다. 이 장치는 또한 사용자에게 직관적인 인터페이스 (interface) 를 제공하여 운영자가 전체 프로세스를 실시간으로 모니터링할 수 있도록 합니다. ACCRETECH JP/E-RM-S07A 머신은 신뢰할 수 있는 품질 보장이 필요한 모든 반도체 생산 환경에 적합한 솔루션입니다. 이 도구는 정밀 이미징, 고해상도 도량형 (High-Resolution Metrology), 강력한 통신 인프라를 결합하여 와퍼 검사 (Wafer Inspection) 에서 특성 및 보고서 생성에 이르기까지 전체 프로세스를 간소화하고 자동화할 수 있습니다.