판매용 중고 ACCRETECH / TSK E-MF1000-100 #9226931

ACCRETECH / TSK E-MF1000-100
ID: 9226931
웨이퍼 크기: 8"
Wafer thickness measurement system, 8".
ACCRETECH/TSK E-MF1000-100은 업계 최고의 웨이퍼 테스트 솔루션 제공 업체 중 하나에서 제공하는, 매우 지능적이고 정확한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 최고의 정확도를 유지하면서 웨이퍼 (wafer) 테스트 프로세스를 간소화하고 자동화할 수 있도록 설계, 제작되었습니다. TSK E-MF1000-100은 세 가지 주요 구성 요소, 검사 모듈, 기본 측정 모듈 및 웨이퍼 검사 암으로 구성됩니다. 검사 모듈에는 자동화된 웨이퍼 처리 장치 (automated wafer handling unit) 가 장착되어 있으며, 카세트에서 카세트로 웨이퍼를 빠르고 정확하게 전송할 수 있습니다. 또한 높이, 두께, 균열, 거품, 기복 등 웨이퍼 표면의 다양한 기능을 검사하고 측정 할 수있는 정교한 광학 머신이 있습니다. 1 차 측정 모듈은 고해상도 반사 현미경과 오브젝티브 렌즈 (objective lens) 를 갖추고 있으며 웨이퍼 표면에서 나노 입자 (nanoparticle) 와 같은 작은 구조를 감지하고 측정하도록 설계되었습니다. 웨이퍼 검사 암 (Wafer Inspection Arm) 에는 통합 카메라, 강력한 검색 알고리즘 및 고속 스캔 제어 (High Speed Scan Control) 가 있어 웨이퍼의 기능을 빠르고 정확하게 찾을 수 있습니다. ACCRETECH E MF1000 100은 기존 웨이퍼 테스트 시스템에 비해 많은 이점을 제공합니다. 매우 민감한 광 도구는 웨이퍼 표면에서 가장 미세한 결함을 감지 할 수 있습니다. 자동화된 웨이퍼 (wafer) 처리 자산은 웨이퍼 (wafer) 전송의 정확성과 속도를 향상시켜 수동 처리로 인한 잘못된 측정 또는 손상 가능성을 줄입니다. 웨이퍼 검사 암 (wafer inspection arm) 의 통합 카메라와 고급 알고리즘은 빠르고 효율적인 기능을 스캔합니다. 또한 TSK E MF1000 100은 사용자 정의가 가능하며 SEM, X-ray machine 등과 같은 다른 도량형 기기와 원활하게 통합하여 사용자에게 더욱 정확하고 포괄적 인 도량형 데이터를 제공 할 수 있습니다. 전반적으로 E-MF1000-100 은 강력하고, 직관적이며, 정확한 웨이퍼 테스트 및 도량형 솔루션으로, 안정적인 결과와 생산성 향상을 제공합니다. 도량형 요건에서 가장 높은 수준의 정확성과 효율성을 요구하는 사람들에게 이상적인 선택이다. & # 160; & # 160;
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