판매용 중고 CANON FPA 5000 AS2 #136492

ID: 136492
빈티지: 2001
193nm scanner Currently shutdown with power off 2001 vintage.
CANON FPA 5000 AS2는 반도체 제조에 사용되는 웨이퍼 스테퍼 (노출 도구라고도 함) 입니다. 그것은 microchip 산업을위한 리소그래피 도구의 리더 인 CANON e-Beam 기술 제품군의 일부입니다. FPA 5000 AS2 는 최강의 툴로서, 생산성 향상과 뛰어난 화질을 제공하여 프로토 타입 (prototype) 및 프로덕션 웨이퍼 (production wafer) 요구 사항을 모두 충족할 수 있습니다. CANON FPA 5000 AS2의 노출 기능은 단계 및 반복 및 연속 웨이퍼 스테퍼 프로세스를 위해 설계되었습니다. 노출 기술에는 Scanning Electron Beam (SEB) 및 Flying Spot 노출 방법이 모두 포함됩니다. 플라잉 스팟 (Flying Spot) 노출 방법은 정적 전자 빔과 렌즈 장비의 움직이는 투영 (projection) 을 사용하여 정밀도와 정확도가 높은 높은 처리량을 제공합니다. FPA 5000 AS2 의 노출 시스템에는 자동 정렬 장치 (auto-alignment unit) 가 장착되어 있어 처리 시간을 대폭 단축하고 정렬 정확성을 보장합니다. 자동 정렬 기계는 자동 정렬 표시 감지 도구 (auto-alignment mark detection tool) 를 사용하여 웨이퍼 어긋남 또는 뒤틀린 웨이퍼로 인해 발생할 수 있는 패턴의 잘못된 정렬을 방지합니다. CANON FPA 5000 AS2의 빔 포지셔닝 제어 자산은 자동화된 패턴 추적 모델을 통해 더 많은 유연성을 제공합니다. 이 장비는 패턴을 추적하고 외부 피드백 신호를 사용하여 수정할 수 있습니다. 또한, FPA 5000 AS2의 빔 모니터링 및 제어 시스템은 제조 공정 전반에 걸쳐 미리 결정된 빔 매개변수를 유지할 수 있습니다. CANON FPA 5000 AS2 의 대형 스캔 크기 (scan size) 및 고해상도 이미징 (high-resolution imaging) 기능을 통해 광범위한 웨이퍼 제작에 적합한 수준의 이미지를 제작할 수 있습니다. 또한 고해상도 이미징은 이미지가 뛰어난 명암과 선명도를 표시하도록 보장합니다. FPA 5000 AS2의 저에너지 웨이퍼 재료 취약점은 도구의 저에너지 SEB 시스템 및 저SEB 챔버 전압에 의해 최소화됩니다. 낮은 SEB 챔버 전압 (Low SEB Chamber Voltage) 은 기질의 열 유도 응력이 최소화되어 장치 사양과 수율을 유지합니다. FPA-5000 에는 설치 레시피를 액세스 및 저장할 수 있는 레시피 (recipe) 아카이빙 장치가 포함되어 있습니다. 이 기능을 통해 고객은 요구 사항에 맞게 레시피 파일을 사용자 정의할 수 있습니다. CANON FPA 5000 AS2는 O2 대신 의사 O2를 사용할 수도 있습니다. Pseudo-O2는 중간 단계를 제거하여 총 처리 시간을 줄입니다. 또한 FPA 5000 AS2에는 다중 레벨 레티클 교환 기능이 포함되어 있습니다. 따라서 레티클 로드와 언로드가 동시에 수행되므로 주기 시간이 단축됩니다. 전반적으로 CANON FPA 5000 AS2 웨이퍼 스테퍼는 프로토 타입 및 프로덕션 웨이퍼 요구를 모두 충족하는 최고의 도구입니다. 뛰어난 이미지 충실도, 저에너지 웨이퍼 재료 취약성, 생산성 향상, 정렬 정확성 향상 등의 기능을 제공합니다.
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