판매용 중고 ULVAC / PHYSICAL ELECTRONICS / PHI / PERKIN ELMER Scanning auger nanoprobe #293827638

ULVAC/PHYSICAL ELECTRONICS/PHI/PERKIN ELMER Scanning auger nanoprobe는 나노미터 척도에서 표면 분석을 위해 설계된 고급 분광계입니다. 이 강력한 장비는 Auger electron spectroscopy (AES) 와 스캐닝 프로브 현미경 (SPM) 의 기능을 결합하여 고해상도 표면 조성 및 재료의 화학 매핑을 제공합니다. 이 시스템의 핵심에는 오거 전자 분광법 (Auger electron spectroscopy technique) 이 있는데, 여기에는 샘플이 집중 된 전자 빔으로 폭격 될 때 방출 된 오거 전자 (Auger electron) 의 분석이 포함됩니다. 이를 통해 감도가 높고 공간 해상도가 높은 원소 구성 및 화학 결합 (chemical bonding) 정보를 결정할 수 있습니다. 스캐닝 프로브 현미경 (scanning probe microscopy) 컴포넌트는 샘플 서피스의 정확한 위치 지정 및 스캐닝을 가능하게 하며, 나노 스케일 (nanoscale) 에서 자세한 구성 및 지형 맵을 생성할 수 있습니다. PHI 스캐닝 오거 나노 프로브 (PHI Scanning auger nanoprobe) 에는 정교한 전자 광학 시스템이 장착되어 있어 전자 빔 크기와 에너지를 정확하게 제어할 수 있으며, 소규모 샘플 영역을 정확하고 효율적으로 분석 할 수 있습니다. 이 기기는 또한 저에너지 오거 (Auger) 전자를 검출하여 분석의 민감성과 특이성을 높일 수있는 고급 검출기 (advanced detector) 및 신호 처리 알고리즘을 특징으로합니다. 이 분광계 (spectrometer) 의 주요 특징 중 하나는 재료의 깊이 프로파일 링 (depth profiling) 을 수행 할 수있는 능력으로, 연구자들은 샘플 내에서 층의 화학 조성을 조사 할 수 있습니다. 전자 "빔 '의" 에너지' 를 변화 시키고 깊이 의 기능 으로 "오우거 '전자 신호 를 감시 함 으로써, 그 기구 는 다층 물질 의 구조 와 조성 에 대한 가치 있는 통찰력 을 제공 할 수 있다. ULVAC 스캐닝 오거 나노 프로브 (Scanning auger nanoprobe) 에는 자동 샘플 포지셔닝 및 스캐닝이 가능한 전동식 스테이지가 장착되어 있어 대용량 지역 맵의 획득과 복잡한 샘플의 효율적인 분석이 용이합니다. 이 시스템은 데이터 분석, 이미지 처리, 결과 시각화 (2D 및 3D 형식) 를 지원하는 소프트웨어 패키지와도 호환됩니다. 연구원과 과학자들은 재료 과학, 반도체 기술, 나노 기술, 표면 화학 등 다양한 분야에서 PHYSICAL ELECTRONICS Scanning auger nanoprobe의 기능을 활용할 수 있습니다. 표면의 원소 구성, 화학 결합 (chemical bonding), 형태 (morphology) 에 대한 자세한 정보를 제공하는 기기의 능력은 나노 스케일 (nanoscale) 에서 고급 재료와 장치의 특성과 행동을 연구하기위한 귀중한 도구입니다. 결론적으로, Scanning auger nanoprobe는 나노 미터 스케일에서 고해상도 표면 분석 기능을 제공하는 최첨단 분광계입니다. 이 기기는 오거 전자 분광법 (Auger electron spectroscopy) 과 스캐닝 프로브 현미경 (scanning probe microscopy) 기술의 조합으로 연구원들에게 탁월한 정밀도와 감도로 재료의 구성, 구조 및 특성을 조사하기위한 강력한 도구를 제공합니다.