판매용 중고 ULVAC / PHYSICAL ELECTRONICS / PERKIN ELMER PHI 700 TM #293828882

ULVAC/PHYSICAL ELECTRONICS/PERKIN ELMER PHI 700 TM은 재료 과학, 박막 분석 및 표면 화학 연구에서 고성능 분석 응용 프로그램을 위해 설계된 고급 표면 분석 분광계입니다. 이 최첨단 도구는 표면 분석 분야에서 3 개의 주요 회사 (ULVAC, PERKIN ELMER, PHYSICAL ELECTRONICS) 의 전문 지식을 결합하여 원자 및 분자 수준에서 표면 및 얇은 필름의 구성, 구조, 특성을 특성화하기위한 최첨단 분석 기능을 제공합니다. 수준. ULVAC PHI 700 TM 분광계의 중심에는 X- 선 광전자 분광법 (XPS), Auger Electron Spectroscopy (AES) 및 Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (AES) 를 포함한 고급 표면 분석 기술이 있습니다. 이러한 기술은 고감도, 공간 해상도를 갖춘 원소 및 화학 분석, 깊이 프로파일링, 표면 이미징을 위한 강력한 도구를 제공합니다. 단일 기기에서 XPS, AES 및 TOF-SIMS의 조합을 통해 연구원은 금속, 반도체에서 폴리머 및 생체 물질에 이르기까지 광범위한 재료의 표면 조성, 화학 결합 및 전자 구조에 대한 포괄적 인 정보를 얻을 수 있습니다. PERKIN ELMER PHI 700 TM 분광기의 주요 기능 중 하나는 샘플 분석의 다양성과 유연성입니다. 이 시스템에는 여러 가지 흥분 소스 (excitation source), 검출기 (detector) 및 분석 옵션 (analysis options) 이 장착되어 있어 다양한 연구 프로젝트의 구체적인 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 예를 들어, XPS 모듈은 정확한 원소 정량화 및 화학 상태 분석을 위해 단색 X- 선 소스를 사용하는 반면, AES 모듈은 표면 감도 및 공간 해상도에 고에너지 전자 빔을 사용합니다. 반면, TOF-SIMS 모듈은 펄스 1 차 이온 빔을 사용하여 높은 질량 해상도와 감도로 2 차 이온의 질량 스펙트럼을 생성합니다. PHYSICAL ELECTRONICS PHI 700 TM 분광계 (Spectrometer) 는 고급 표면 분석 기능 외에도, 데이터 수집 및 분석 향상을 위한 다양한 혁신적인 기능을 제공합니다. 이 장치에는 XPS, AES 및 TOF-SIMS 스펙트럼의 실시간 데이터 시각화, 피크 피팅, 정량적 분석이 가능한 정교한 데이터 처리 소프트웨어가 장착되어 있습니다. 연구자들은 또한 기기의 깊이 프로파일 링 (depth profiling) 기능을 활용할 수 있으며, 이는 표면 조성 및 레이어 구조를 나노 미터 스케일 해상도의 깊이 기능으로 연구 할 수 있습니다. 또한, PHI 700 TM 분광기는 사용자 친화적 인 인터페이스와 직관적인 제어 기능을 통해 손쉽게 작동하고 데이터를 해석할 수 있도록 설계되었습니다. 이 장치에는 높은 처리량 샘플 처리 시스템, 자동화된 데이터 획득 루틴, 효율적인 워크플로우 및 생산성을 위한 원격 모니터링 (Remote Monitoring) 기능이 있습니다. 연구원은 또한 완벽한 협업 및 데이터 관리를 위해 기기의 연결 옵션 (예: 네트워크 통합, 데이터 공유) 의 혜택을 누릴 수 있습니다. 요약하면, ULVAC/PHYSICAL ELECTRONICS/PERKIN ELMER PHI 700 TM 분광계는 연구 및 산업의 표면 분석 및 재료 특성화를위한 강력하고 다양한 도구입니다. 고급 분석 기술, 사용자 정의 가능한 구성, 사용자 친화적 인 인터페이스 (user-friendly interface) 를 갖춘 이 기기는 원자 및 분자 수준에서 표면과 박막 (thin film) 의 특성과 동작을 조사하는 데 탁월한 기능을 제공합니다. UVAC PHI 700 TM 분광계는 반도체 장치의 구성, 촉매의 화학 검사, 코팅 및 박막 성능 최적화 등을 연구할 때, 최첨단 표면 분석 응용을위한 포괄적 인 솔루션을 제공합니다.