판매용 중고 SHIMADZU EPMA-1720 #293586145

SHIMADZU EPMA-1720 분광계는 원소 분석을 위해 설계된 에너지 분산 X- 선 (EDX) 분광계입니다. 주로 ppm (parts per million) 에서 weight% 범위의 원소 농도의 분석 및 정량화에 사용됩니다. 견고한 고진공 샘플 챔버 (high-vacuum sample chamber) 와 고급 제어 시스템을 갖춘 랩 호환 모델입니다. EPMA-1720은 회전 양극 X- 선 튜브, 이온-광학 열, 마이크로 채널 플레이트 검출기, 샘플 변경 장치 및 Windows 기반 호스트 컴퓨터 (HPC) 로 구성됩니다. 회전 양극 X- 선 튜브는 연결된 HPC를 사용하여 전압 및 전류 세트에 따라 X- 레이를 생성합니다. HPC는 또한 인터페이스 역할을하며, 분광기를 중수소 램프와 같은 다른 외부 구성 요소에 연결합니다. 이온-광학 열은 한 쌍의 공조기 및 슬릿, 스캐닝 디플렉터, 샘플 정의 조리개 (aperture) 로 구성됩니다. 공준기 및 슬릿 어셈블리는 이온 광학 열로 들어가는 X- 선 분포를 제한합니다. 스캐닝 디플렉터는 25kV에서 조리개를 정의하는 샘플을 통해 X- 레이를 스캔하여 에너지 범위를 결정합니다. 마이크로 채널 플레이트 검출기는 MCP 어셈블리, 신호 증폭기, 아나모픽 프리즘 및 포스포 스크린으로 구성됩니다. 신호 증폭기는 신호 의존적 게인 조정 및 노이즈 수준이 0.7e- rms 인 낮은 노이즈 증폭기 (low-noise amplifier) 를 특징으로합니다. 아나모픽 프리즘 (anamorphic prism) 은 컴포넌트 에너지를 분리하고 포스퍼 스크린 (phosphor screen) 은 흥미로운 X- 선 빔의 각인을 가시광선 이미지로 변환합니다. 또한 SHIMADZU EPMA-1720 (SHIMADZU EPMA-1720) 에는 샘플 포지셔닝 수준 사이를 빠르게 전환할 수 있는 샘플 변경 장치가 장착되어 있습니다. 이 장치는 또한 X 선 오염에 대한 방패 역할을합니다. 한편, Windows 기반 HPC는 분광법 데이터를 모니터링하고 저장합니다. 전반적으로 EPMA-1720은 고체 및 액체 샘플에 대한 빠르고, 정확하고, 신뢰할 수있는 원소 분석을 위해 설계된 고급 EDX 분광계입니다. 회전 양극 X- 선 튜브 (X-ray tube) 및 마이크로 채널 플레이트 검출기 (plate detector) 를 사용하면 시스템에서 ppm의 범위에서 무게% 범위의 요소를 식별 할 수 있습니다. 그리고 샘플 변경 장치는 오염 자유 조건을 보장합니다.