판매용 중고 PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 #293759391
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ID: 293759391
Time Of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (TOF-SIMS)
Ion sources: Ga+, Cs+, O2+
Detection limit: ppm-ppb
Spatial resolution at imaging: >100 nm
Probing depth: 1-3 monolayers in static mode
Depth resolution: 0.5 nm with 500eV sputter gun
Mass range: 0-10.000 amu
Detectable elements: H-U.
PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97은 Auger electron spectroscopy (AES) 및 X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) 기술을 사용하여 표면 분석을 위해 설계된 최첨단 분광계입니다. 이 고성능 기구는 연구원들과 과학자들에게 뛰어난 감도, 깊이 프로파일 링 기능으로 물질의 표면 화학, 조성, 구조를 조사 할 수있는 능력을 제공합니다. TRIFT97 분광계는 방출 된 전자의 정밀한 에너지 측정을 가능하게하는 반구형 전자 에너지 분석기 (hemispherical electron energy analyzer) 를 갖추고 있으며, 표면의 원소 조성 및 화학 결합 상태를 정확하게 확인할 수 있습니다. 이 시스템은 표면 오염을 최소화하고 분석 중에 높은 신호 대 잡음비 (signal-to-noise ratios) 를 유지하기 위해 매우 높은 진공 조건에서 작동하도록 설계되었습니다. 이 기기는 견본 표면에 집중된 전자 빔을 방출하는 정교한 전자 총 (electron gun assembly) 을 특징으로하여 오거 (Auger) 와 광전자 (photoelectrons) 의 방출을 유발합니다. 이들 방출 된 전자는 전자 에너지 분석기 (electron energy analyzer) 에 의해 수집되어 표본의 원소 조성 및 화학 환경에 대한 자세한 정보를 보여주는 고해상도 스펙트럼 (high-resolution spectra) 을 생성하도록 처리된다. PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97 분광계는 Auger 및 XPS 스펙트럼을 동시에 획득하기 위해 여러 탐지 채널을 갖추고 있으며, 복잡한 표면을 효율적이고 포괄적으로 분석할 수 있습니다. 이온 빔 (ion beam) 으로 샘플을 스퍼터링하고 표면 조성 (surface composition) 과 화학 상태의 변화를 지속적으로 모니터링하여 심도 프로파일 (depth profiling) 실험을 수행할 수 있습니다. TRIFT97 분광기의 주요 특징 중 하나는 고급 데이터 획득 및 처리 소프트웨어 (Advanced Data Acquisition and Processing Software) 로, 기기 제어, 데이터 획득 및 분석을 위한 사용자 친화적 인 인터페이스를 제공합니다. 이 소프트웨어는 획득 한 스펙트럼, 피크 식별, 원소 농도 정량, 결합 에너지에 기반한 화학 상태의 해석을 실시간으로 시각화 할 수 있습니다. 또한 XPS 해상도 향상을위한 단색 X- 선 소스, 순차 스퍼터링 및 분석을위한 깊이 프로파일링 모드, 제어 온도에서 현장 실험을위한 샘플 난방 및 냉각 단계 등 분석 기능을 향상시키는 다양한 선택적 액세서리 (옵션) 및 업그레이드가 포함되어 있습니다. 요약하자면, PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT97은 표면 분석 응용 프로그램을 위해 최첨단 기능을 제공하는 다재다능하고 강력한 분광계입니다. 고감도, 해상도, 깊이 프로파일 링 기능을 갖춘 이 기기는 재료 과학, 나노 기술, 촉매, 반도체 연구 등 다양한 분야의 다양한 재료의 표면 특성을 탐색하는 데 이상적입니다. 직관적 인 소프트웨어 인터페이스 (software interface) 와 선택적 액세서리 (accessory) 는 원자 수준에서 표면의 화학과 구조에 대한 심층적인 통찰력을 얻기 위해 연구자와 과학자들에게 귀중한 도구가됩니다.
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