판매용 중고 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI TRIFT III #293759112

ID: 293759112
Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometer (ToF-SIMS) Material: Au LMIG.
PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT III는 매우 민감한 분광계로, 다양한 재료 특성 응용 프로그램에 적합한 성능을 제공합니다. PHI TRIFT III는 다양한 저항성, 시트 저항, 필드 및 저주파 커패시턴스, 2 차 방출 계수 및 기타 매개변수를 포함하여 장치의 물리적 특성을 측정하는 데 광범위한 전자 제품을 사용합니다. 다재다능한 전자 제품 범위를 통해 반도체, 복합 재료, 폴리머, 강자성 재료, 금속, 도자기 등 다양한 재료의 연구 및 특성화가 가능합니다. PHYSICAL ELECTRONICS TRIFT III에는 독특한 "트리오 커패시턴스 (Trio-capacitance)" 모드가 있습니다. 이 기기는 매우 높은 주파수 및 정확한 전류 분사 (current injection) 를 갖는 3 전극 배열의 측정 조합을 사용하여 재료 특성에 대한 질적 측정을 제공합니다. 또한 사용자는 "분할 모드 (Split Mode)" 를 통해 하나의 측정 설정에서 두 개의 독립적 (서로) 및 대칭 측정을 측정 할 수 있습니다. 즉, 동일한 샘플에서 두 개의 개별 위치에서 하나의 물리적 특성을 측정할 수 있습니다. 이 기능은 완전히 다른 위치에서 측정하지 않고도 "샘플 내부 (inside of the sample)" 를 볼 수 있습니다. TRIFT III에는 온도 조절 단계, 전동 샘플 홀더, 샘플 프로브, 주소 지정 및 원격 제어 웹 인터페이스 등 다양한 액세서리가 장착되어 있습니다. 사용자에게 친숙한 그래픽 인터페이스 (graphical interface) 를 통해 사용자는 특정 애플리케이션의 장비를 쉽게 설정할 수 있으며, 데이터 분석 (data analysis) 도 지원합니다. PHYSICAL ELECTRONICS/PHI TRIFT III는 고급 소프트웨어 알고리즘을 사용하여 매우 높은 정확도로 결과를 정확하게 계산합니다. 결과적으로, 측정은 반도체 장치 특성, 재료 특성 특성, 실패 분석 (failure analysis) 등과 같은 광범위한 응용 분야에 사용될 수 있습니다. PHI TRIFT III (PHI TRIFT III) 는 다양한 재료에 대해 빠르고, 안정적이며, 정확한 데이터 측정이 필요한 연구원들에게 탁월한 선택입니다. 광범위한 전자제품 (electronics) 과 액세서리 (accessory) 는 디바이스 특성화부터 장애 분석 등 다양한 애플리케이션을 위한 강력하고 다양한 도구입니다.
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