판매용 중고 PHYSICAL ELECTRONICS / PHI 545 #9049692

PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 545는 표면 조성 및 화학 결합 분석을 위해 설계된 고성능 스캔 Auger/X-Ray Photoelectron Spectrometer입니다. 분광계는 샘플 표면에서 지향되는 전자의 빔을 생성하여 작동합니다. 빔이 표면 요소와 상호 작용함에 따라 Auger 및 X- 선 신호가 생성됩니다. 이러한 신호는 샘플의 표면 조성에 대한 정보를 얻기 위해 감지, 확대, 분석됩니다. 분광기는 압력을 조절 및 모니터링 할 수있는 진공 밀봉 챔버를 특징으로합니다. 빔 자체는 에너지, 에너지 확산, 중화, 전류 측면에서 제어 할 수 있습니다. 샘플 무버 (mover) 는 프로그램 또는 수동 제어 하의 x 축과 y 축 모두에서 샘플을 이동할 수 있습니다. PHI 545 Auger/X-Ray Photoelectron Spectrometer를 사용하여 주기율표를 따라 붕소에서 우라늄까지의 원소를 측정 할 수 있습니다. 80 ~ 4,000 eV 에너지의 넓은 전압 범위를 가지고 있습니다. "분광계 '는 또한 신호 탐지 에 사용 되는" 가스' "이온화 챔버 '로 인하여 다른 분광계 보다 높은 해상도 를 가지고 있다. 전원 공급 장치 (Power Supply) 에는 다양한 조정 가능한 전압이 있어 사용자가 시스템 전원 설정을 사용자 정의할 수 있습니다. PHYSICAL ELECTRONICS 545 Auger/X-Ray Photoelectron Spectrometer는 재료 연구 및 분석, 표면 수정, 박막 수정, 기본 재료 평가, 박막 증착 및 감전기 테스트 등 다양한 응용 분야에 사용할 수 있습니다. 공간 해상도 (1äm) 의 표면을 분석하는 기능이 있으며, 이는 넓고 작은 지역에 적합합니다. 분광계는 또한 샘플의 오염 물질 및 결함 수준, 화학 구조, 인터페이스 및 형태를 측정 할 수 있습니다. 545 Auger/X-Ray Photoelectron Spectrometer에는 데이터 취득, 분석 및 조작 소프트웨어가 포함됩니다. 이 소프트웨어에는 데이터 시각기, 데이터 필터, 커브 피팅 알고리즘, 다양한 분석 설정이 포함되어 있어 분광계를 정확하고, 반복 가능하며, 정확한 측정이 가능합니다. 이 소프트웨어는 사용자 친화적이며 탐색이 간편하여, 쉽게 배우고 사용할 수 있습니다. 전반적으로 PHYSICAL ELECTRONICS/PHI 545 Auger/X-Ray Photoelectron Spectrometer는 표면 분석을위한 강력한 장치입니다. 화학적 구성, 형태, 오염 물질, 결함 수준에 대한 정확하고 신뢰할 수있는 측정을 사용자에게 제공하는 수많은 기능이 있습니다. 사용이 간편한 소프트웨어와 조정 가능한 설정으로 인해 표면 분석 어플리케이션 (surface analysis application) 에 이상적인 선택이 됩니다.