판매용 중고 PERKIN ELMER Optima 2000 #9033107

PERKIN ELMER Optima 2000 분광계는 일반적인 XRF 응용 프로그램을 위해 설계된 고해상도 X- 선 형광 분광계 (XRF) 입니다. Optima 2000은 요오드화 세슘 (CsI) 신틸레이터 검출기, 4 개의 X- 선 튜브가있는 4 개의 양극 장비 및 여러 가지 고급 소프트웨어 기능으로 설계되었습니다. 가장 희귀한 요소를 측정하기 위해 뛰어난 신호 대 잡음 비율 (signal-to-noise ratio) 과 향상된 민감도를 제공합니다. 분광계는 4 개의 X 선 튜브, Cu 튜브, Mo 튜브, W/Rh 튜브 및 Cr 튜브가있는 CsI 검출기와 4 개의 양극 시스템으로 구성됩니다. PERKIN ELMER Optima 2000은 다른 XRF 시스템보다 해상도가 높습니다. 이 장치에는 로우 빔 (row beam) 과 발산 콘 빔 (diverging cone beam) 이 포함 된 이중 패스 시공자 빔이 있어 단일 샘플에서 다중 요소 분석이 가능합니다. 높은 성능과 뛰어난 해상도로, 이 기계는 물리 과학, 화학, 제약 연구에 이상적입니다. Optima 2000은 뛰어난 사용자 편의성, 최고 수준의 제어 기능을 제공하여 쉽고 안전한 운영을 지원합니다. 이 도구에는 터치 스크린과 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스가 있습니다. 사용자는 터치 인터페이스 (touch interface) 를 통해 분광계를 제어하고 표준 분석 프로그램 (standard analysis program) 과 미리 정의된 설정을 찾을 수 있습니다. 자산은 원격으로 작동 할 수도 있습니다. PERKIN ELMER Optima 2000은 질적, 정량적 분석을 포함한 많은 응용 프로그램에 사용될 수있는 다재다능한 모델입니다. 귀금속, 합금, 광석, 미네랄, 유기물 등 다양한 물질을 분석 할 수 있습니다. 또한, 중원소 뿐만 아니라 빛을 포함하여 요소에 대한 다양한 감지 기능이 있습니다. 또한, XRF 장비는 광범위한 분석 프로세스와 다양한 응용 프로그램을 갖추고 있습니다. Optima 2000은 고성능, 정확성 및 신뢰성을 제공합니다. 데이터 분석 (data analysis) 및 내식성 측정 (corrosion resistance measuration) 을 위해 최첨단 애플리케이션을 포함한 하드웨어 및 소프트웨어 솔루션의 조합을 활용합니다. 또한, 사용자는 수동 튜닝 (manual tuning) 없이 쉽게 분광계를 보정할 수 있습니다. PERKIN ELMER Optima 2000은 X- 선 형광 분광법 및 다중 요소 분석에 적합한 선택입니다. 뛰어난 성능으로, 이 시스템은 가장 까다로운 연구 및 감지 어플리케이션에 이상적입니다.