판매용 중고 KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD #293825422

KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD 분광계는 재료 과학, 나노 기술 및 표면 화학 분야의 고급 표면 분석 및 깊이 프로파일 응용 프로그램을 위해 설계된 최첨단 기기입니다. 이 최첨단 분광계는 이중 마이크로 포커싱 (micro focusing) x-ray 소스와 멀티 채널 검출기 시스템을 통합하여 연구원 및 과학자에게 뛰어난 성능 및 분석 기능을 제공합니다. Axis Ultra DLD 분광계의 핵심에는 혁신적인 듀얼 마이크로 포커싱 x- 레이 소스가 있으며, 이는 동시에 또는 순차적으로 작동 할 수있는 두 개의 독립적으로 제어 된 x- 레이 소스로 구성됩니다. 이 이중 소스 구성은 고해상도 원소 및 화학적 이미징을 가능하게 하며, 감도 및 공간 해상도가 향상되었습니다. 엑스레이 (x-ray) 소스에는 작은 반점 크기를 생성하는 마이크로 포커싱 광학 (micro focusing optics) 이 장착되어 복잡한 표면 특징을 가진 샘플을 정확하게 분석 할 수 있습니다. KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD 분광기의 다중 채널 검출기 시스템은 다양한 분석 기술 및 검출 모드에 최적화된 정교한 X 선 검출기 배열로 구성됩니다. 검출기 시스템은 다양한 x-ray 에너지 (x-ray energy) 와 신호 강도를 수용할 수 있으므로 다양한 분석 응용 프로그램에 다재다능합니다. 다중 채널 설계 (multichannel design) 는 여러 원소와 화학 종을 동시에 감지하여 분석의 효율성과 처리량을 향상시킵니다. 축 울트라 DLD (Axis Ultra DLD) 분광기의 주요 특징 중 하나는 동적 깊이 프로파일 링 기능으로, 연구자들은 서로 다른 깊이에서 재료의 화학 조성을 조사 할 수 있습니다. 이 깊이 프로파일 링 기능은 분광계에 통합 된 Dynamic SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) 모듈을 사용하여 달성됩니다. 동적 SIMS 모듈 (Dynamic SIMS module) 은 집중 이온 빔 (focused ion beam) 을 사용하여 샘플의 표면을 스퍼터링하여 재료의 다른 깊이에서 원소 및 분자 종을 분석 할 수 있습니다. 깊이 프로파일 링 외에도 KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD 분광계는 XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy), AES (Auger Electron Spectroscopy) 및 ISS (IS Spectrostering) 를 포함한 표면 분석을위한 다양한 고급 분석 기술을 제공합니다. 이러한 기술은 조사 대상 샘플의 원소 구성, 화학 결합 및 표면 형태에 대한 귀중한 정보를 제공합니다. "분광기 '의 고감도 와 해상도 는 박막," 코우팅', 나노물질 및 기타 고급 재료 를 연구 하는 데 이상적 이다. Axis Ultra DLD 분광계 (Spectrometer) 는 사용자에게 친숙한 인터페이스와 강력한 소프트웨어 제품군을 장착하여 원활한 데이터 획득, 처리, 분석을 지원합니다. 이 소프트웨어는 고급 데이터 시각화 도구, 스펙트럼 디컨볼루션 알고리즘, 정량적 분석 (quantitative analysis) 기능을 제공하여 스펙트럼 데이터에서 귀중한 통찰력을 추출합니다. 연구원은 실험 매개변수를 쉽게 사용자 정의하고, 자동화된 워크플로를 만들고, 연구 프로젝트에 대한 자세한 보고서를 생성할 수 있습니다. 전체적으로 KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD 분광계는 고급 표면 분석 및 깊이 프로파일링 어플리케이션에 탁월한 성능, 다용성, 분석 기능을 제공하는 최첨단 장치입니다. 혁신적인 디자인, 동적 깊이 프로파일 링 기능, 고급 분석 기술로 Axis Ultra DLD 분광계는 다양한 재료 과학 및 표면 화학 분야에서 일하는 연구원 및 과학자들에게 유용한 도구입니다.