판매용 중고 KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD #293822764

KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD는 다양한 재료에 대한 고급 표면 분석 기능을 제공하는 최첨단 분광계입니다. 이 정교한 도구는 표면과 얇은 필름의 구성, 구조, 특성에 대한 고해상도 데이터 (high-resolution data) 를 제공하기 위해 고안되었으며, 이는 학술, 산업 및 정부 실험실의 연구 개발에 이상적입니다. 축 울트라 DLD 분광계 (Axis Ultra DLD spectrometer) 의 중심에는 2 차 이온, 전자 및 중성자가 1 차 이온 빔에 의해 폭격 된 표면에서 방출되는 정확한 분석이 가능한 독특한 자기 섹터 분석기가 있습니다. 이 분석기 (Analyzer) 에는 우수한 에너지 해상도 및 질량 분리를 보장하는 이중 초점 정전기 분석기 (double-focusing electrostatic analyzer) 가 장착되어 표면 종의 정확한 식별 및 정량화가 가능합니다. KRATOS ANALYTICAL AXIS 울트라 DLD (Ultra DLD ANALID AXIS Ultra DLD) 의 주요 기능 중 하나는 이중 모드 작동으로, 동일한 샘플 영역에서 질량 스펙트럼 및 이미지 데이터를 모두 수집할 수 있습니다. 이 기능을 통해 연구원들은 화학 정보를 공간 분포와 상호 연관시킬 수 있으며, 표면 조성 및 지형에 대한 귀중한 통찰력을 제공합니다. 분광계 (spectrometer) 에는 스캔 또는 정적 모드에서 작동 할 수있는 높은 밝기, 저에너지 갈륨 이온 소스가 장착되어 있어 샘플 분석의 유연성을 제공합니다. 1 차 이온 빔은 서브 미크론 스팟 크기에 집중할 수 있으며, 복잡한 구조를 가진 표면의 고해상도 이미징 및 국소화 된 분광법을 가능하게한다. Axis Ultra DLD (Axis Ultra DLD) 에는 다양한 탐지기 (detector) 가 장착되어 있어 광범위한 표면 분석을 가능하게 합니다. 이러한 검출기는 전자 승수, 마이크로 채널 플레이트 및 패러데이 컵 (Faraday cup) 을 포함하며, 각각 저에너지 이온의 고감도 검출 또는 원소 조성의 정확한 정량화와 같은 특정 분석 작업에 최적화되었습니다. KRATOS ANALYTICAL Axis Ultra DLD 분광계는 하드웨어 기능 외에도 고급 데이터 획득 및 분석 소프트웨어에서 지원되며, 이를 통해 복잡한 표면 분석 데이터를 쉽게 처리, 해석할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 피크 디콘볼루션 (Peak deconvolution), 요소 매핑 (Elemental Mapping), 깊이 프로파일링 (Depth Profiling) 및 통계 분석 (Statistical Analysis) 을 위한 도구를 제공하여 사용자가 친숙한 인터페이스에서 원시 데이터로부터 귀중한 정보를 추출할 수 있습니다. 전반적으로, Axis Ultra DLD 분광계는 표면 분석을위한 강력한 도구를 나타내며, 단일 기기에서 고감도, 고해상도, 다용성을 제공합니다. 그것의 고급 능력은 재료 과학, 나노 기술, 촉매, 생체 물질과 같은 분야의 연구에 귀중한 자산으로 만듭니다. 여기서 자세한 표면 특성은 구조-재산 관계를 이해하고 새로운 기술을 개발하는 데 필수적입니다.