판매용 중고 JEOL JSX 3400R #189263
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판매
ID: 189263
빈티지: 2007
Energy dispersive fluorescent X-ray analyzer
Element range: Na-U
Sample size: Diameter 300mm x Hight 150mm
X-ray bulb: Rh target, 5-50kV, 1mA, 50W, Replaced on 2012
Detector: Liquid Nitrogen cooling Si semiconductor detector
Colimator: 1, 3, 7mm
PC: Windows XP PC with LCD/Printer
Software: RoHS analysis (plastic, metals, documentation), general analysis
Option:
Vacuum system: Yes, Rotary Pump unit include
CCD camera: Yes, Light unit include
Power: AC100V/15A
Liquid Nitrogen: Volume 3L, 1L per day needed
2007 vintage.
JEOL JSX 3400R (Scanning Electron Microscope, SEM) 분광계로 최신 기술의 발전을 통합하여 정확한 고속 데이터 수집 기능을 제공합니다. 이 장비는 에너지 분산 X- 선 형광 (EDX) 및 전송 전자 현미경 (TEM) 을 포함하여 광범위한 분석 기능을 제공합니다. 전자빔으로 작은 입자를 측정하기 위해 JSX 3400R은 고급 스캐닝 메커니즘을 특징으로합니다. 이 메커니즘은 빔 에너지 해상도 0.025eV로 높은 해상도를 보장합니다. 자동 빔 전류 안정화와 결합 된 AE 렌즈 (AE lens) 는 스캔 중 샘플 드리프트를 보상합니다. 또한, 환경 제어 기술을 통해 JSX 3400은 제어 온도 및 습도 환경에서 작동하여 측정 정확도가 향상됩니다. 이 시스템은 또한 다양한 이미지 처리 기능을 제공하며, 고급 알고리즘으로 결과를 증폭하고 정량화합니다. 사용자는 데이터 아카이빙 (Data Archiving) 기능을 통해 이미지와 프로세스 분석을 컴퓨터에 저장할 수 있습니다. 또한 OIServer 를 내장하여 JSX 에서 세계 어디서나 데이터를 신속하게 전송할 수 있습니다. 또한 JEOL JSX 3400R은 측정 정확도와 효율성을 향상시키는 다양한 기능을 제공합니다. 이러한 기능에는 6 축 조작기, 주변 iD 스테이지 컨트롤러, 내장 EDS-SLD 장치 및 2 차원 광학 프로파일로미터가있는 고출력 광학 현미경이 포함됩니다. JSX 3400R은 분광학 연구를위한 신뢰할 수 있고 다양한 도구입니다. 고급 기능은 정확도가 가장 높은 작은 입자를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 또한 컴퓨터의 고급 이미지 처리 (advanced image processing) 기능을 사용하여 분석을 구체화하고 정량화할 수 있습니다. 강력한 디자인과 기능의 조합으로 JEOL JSX 3400R (JOL JSX 3400R) 은 연구원들에게 나노 스케일의 재료를 이해하는 귀중한 도구를 제공합니다.
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