판매용 중고 HITACHI HFS-3 #293667531

HITACHI HFS-3은 일상적인 실험실에 적합한 고성능 FT-IR 분광계입니다. 고감도 샘플 (high sensitivity sample) 측정을 위한 다양한 옵션을 제공하는 여러 가지 고급 기능이 있습니다. 분광계는 유전체 거울, 0.5 cm-1 해상도 및 6,500-350 cm-1의 스펙트럼 범위에 간섭계가 있습니다. HFS-3 은 고해상도 스캐닝 시스템 (Scanning System) 을 사용하여 분당 최대 6,000 개의 스캔 속도로 최대 32 개의 스캔을 수행할 수 있습니다. 분광계 (Spectrometer) 에는 다중 채널 기능, 피크 검색 등 다양한 질적, 정량적 분석 기능이 장착되어 있습니다. 이 분광계는 Windows XP 소프트웨어가 내장된 데이터 처리 시스템 (data processing system) 과 함께 제공되므로 분광계의 데이터를 쉽고 효율적으로 분석할 수 있습니다. 샘플 구획에는 샘플 분석을위한 자동 이동 메커니즘이 장착되어 있습니다. 샘플 측정 헤드는 솔리드 (solid) 및 액체 (liquid) 샘플에 대해 구성할 수 있으며 정밀도 및 속도로 작동합니다. 분광계 (spectrometer) 에는 전동식 다중 채널 창 (motorized multichannel window) 옵션도 장착되어 있어 원하는 파장 영역을 선택하여 분석할 수 있습니다. 이것은 피크 탐지의 정확도를 향상시키고, 분광계의 감도를 더욱 높입니다. HITACHI HFS-3에는 정량적 분석을위한 몇 가지 내장 기능도 포함되어 있습니다. 흡수 및 투과율 측정을위한 참조 의존 분석 시스템이 제공됩니다. 참조 독립 분석에는 자동 샘플 참조 선택과 루틴 분석에서 선형 깊이 선형 범위 (linear-depth linear range) 가 있습니다. 또한 참조 측정의 연산자 오류를 방지하기 위해 자동 (Autoshutter) 기능이 장착되어 있습니다. 또한, 분광계에는 빠른 스캐닝 상황에서 정확한 피크 위치를 정확히 파악할 수있는 피크 검색 기능이 내장되어 있습니다. HFS-3은 컴팩트하며 마이크로 및 나노 스케일 분석, 어셈블리 라인 측정, 품질 제어 등 다양한 애플리케이션에 적합합니다. 통합된 소프트웨어와 자동화된 샘플 포지셔닝 (Sample Positioning) 기능을 통해 편리하게 사용할 수 있으며, 사용자의 관심을 최소화할 수 있습니다. 또한, 우수한 파장과 해상도로 인해 다양한 응용 프로그램에 적합합니다.