판매용 중고 CAMECA SX-100 #293773834

CAMECA SX-100은 고해상도 표면 특성 및 원소 분석을 위해 설계된 고급 분광계입니다. 연구 및 산업 응용 분야를위한 분석 기기의 주요 제공 업체 인 CAMECA (CAMECA) 에서 제조합니다. CAMECA SX 100은 최첨단 기술을 통합하여 마이크로 및 나노 스케일 (micro- scale) 수준에서 재료의 원소 구성 및 구조를 분석하는 데 탁월한 성능과 정확성을 제공합니다. SX-100의 중심에는 초점 전자 빔을 사용하여 샘플 표면을 흥분시키고 특성 X- 선을 생성하는 고성능 전자 프로브 마이크로 아날리저 (EPMA) 시스템이 있습니다. 그런 다음 이러한 X- 레이를 감지하고 분석하여 샘플의 원소 조성을 결정합니다. SX 100에는 WDS (wavelength distersive spectrometer) 및 EDS (energy distersive spectrometer) 를 포함한 여러 검출기가 장착되어 있어 광범위한 요소를 정확하고 동시에 분석할 수 있습니다. CAMECA SX-100의 주요 기능 중 하나는 탁월한 공간 해상도이며, 이를 통해 사용자는 서브 미크론 (sub-micron) 정확도로 샘플을 연구 할 수 있습니다. 이 기기에는 나노 미터 레벨 정밀도 (nanometer-level precision) 로 샘플을 배치 할 수있는 고정밀 스테이지가 장착되어 있으며, 샘플 표면에 걸쳐 원소 분포의 세부 매핑 및 이미징이 가능합니다. 이 능력은 재료 과학, 지질학, 반도체 분석과 같은 연구 분야에서 특히 가치가 있으며, 여기서 미세 구조와 미량 요소를 특성화하는 것이 중요합니다. CAMECA SX 100은 다양한 연구 요구를 충족시키기 위해 다양한 분석 모드 및 기능을 제공합니다. 빠르고 효율적인 데이터 수집을 위한 자동 매핑 (Mapping) 및 라인 스캐닝 (Line Scanning) 기능과 정확한 정량화를 위한 고급 정량적 분석 툴을 지원합니다. 이 도구는 또한 정교한 데이터 처리 (data processing) 및 시각화 소프트웨어 (visualization software) 를 통해 사용자가 명확하고 유익한 방식으로 결과를 해석하고 발표 할 수 있습니다. 분석 능력 외에도, SX-100은 사용 편의성과 신뢰성을 위해 설계되었습니다. 이 기기에는 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 와 소프트웨어 제어 (software control) 가 장착되어 있어 실험적인 워크플로우를 간소화하고 연산자 오류를 최소화합니다. '강력한' 구성과 '고품질' 구성요소는 '운영 기간 연장' 에 걸쳐 안정적이고 재현가능한 성능을 보장하므로 '연구 실험실' 과 '산업 품질 관리' 환경 모두에 이상적인 툴입니다. 전반적으로, SX 100은 고해상도 표면 분석 및 원소 특성화를위한 최첨단 솔루션을 나타냅니다. 고급 기능, 뛰어난 성능, 사용자 친화적 설계를 갖춘 CAMECA SX-100 은 다양한 분석 애플리케이션을 위한 다용도 및 강력한 툴입니다. 지질 샘플을 연구하고, 반도체 자료를 조사하든지, 품질 관리 검사를 수행하든, 연구원과 업계 전문가는 CAMECA SX 100에 의존하여 과학적 발견과 기술 혁신을 이끌어내는 정확하고 통찰력있는 결과를 얻을 수 있습니다.