판매용 중고 CAMECA IMS 4F #9249302
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판매
ID: 9249302
Secondary Ion Mass Spectrometer (SIMS)
Multiple immersion lens strip
Duoplasmatron and cesium source
Charge auto compensation electron gun for insulator analysis
Liquid nitrogen cooled fracture stage attachment
Cryo pump vacuum system
Dynamic transfer system
Scanning ion image display
Secondary imaging.
CAMECA IMS 4F는 마이크로 이미징 및 화학 마이크로 분석을 위해 설계된 강력하고 다재다능한 분광계입니다. 이 다재다능한 기기는 가장 어려운 측정에 최대 민감도를 제공하는 CBI (Column-Based Ion Microprobe) 를 갖추고 있습니다. 4F (The 4F) 는 원소 분석 및 동위 원소 연구를 위해 신뢰할 수 있고 고급 분광계가 필요한 연구자와 과학자들에게 완벽한 선택입니다. CAMECA IMS4F 분광계는 고각 해상도와 총 이온 카운팅 기능을 결합하여 스캐닝 및 원소 매핑에서 최고의 성능을 제공합니다. 매우 다재다능한 CBI (Column-Based Ion Microprobe) 는 0.2 ½ m 정도의 해상도로 이미징 및 매핑을 수행하여 빠르고 정확한 원소 구성 맵을 가능하게합니다. CBI 는 고해상도 및 성능 향상을 위해 효율적이고 효과적인 열 배열을 사용하며, 각기 다른 샘플에 대해 최적화된 에너지 설정 (energy settings) 을 제공합니다. IMS-4F에는 SDD (실리콘 드리프트 검출기) 및 WD (산란 창 검출기) 와 같은 여러 검출기가 장착되어 있습니다. 이 검출기는 우라늄까지 모든 원소를 동시에 측정 할 수 있으며, 광범위한 동위 원소 비율 (isotopic ratios) 과 자연 발생 원소의 비율을 감지 할 수 있습니다. SDD 검출기는 또한 기존의 S-SDD 배열에 비해 향상된 해상도를 제공합니다. 측정 정확성을 보장하기 위해 IMS 4F는 고급 제어 시스템 (Advanced Control System), 대형 진공 시스템 (Large Vacuum System) 및 강력한 Cryopump로 보호됩니다. cryopump에는 액체 질소 냉각 시스템 (liquid nitrogen cooling system) 과 극저온 분리기 (cryogenic isolator) 가 있으며, 이는 분석 중 샘플 오염을 방지합니다. 이 기기는 소프트웨어 제어 이온 초점을 통해 방사선으로부터 추가로 보호됩니다. 마지막으로, IMS4F 분광계는 이후의 실험을 위해 설정 (settings), 데이터 분석 (data analysis) 및 데이터 조작을 허용하는 다양한 소프트웨어 도구를 사용하여 완벽하게 사용자 정의할 수 있습니다. 이러한 옵션에는 피크 감지, 통합, 질량 보정, 스플라이싱 및 오버레이가 포함됩니다. 또한 데이터 표시를 위한 다양한 사용자 친화적 그래픽 도구 (GUI) 를 의미있는 방식으로 제공합니다.
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