판매용 중고 CAMECA IMS 4F #293587143

CAMECA TOF-SIMS IV는 연구원들이 샘플 원자와 전자 사이의 상호 작용을 측정하여 다양한 분석 작업에 유용한 정보를 제공 할 수 있도록 설계된 고급 분광계 (Advanced Spectrometer) 입니다. 이름에서 알 수 있듯이, 그것은 TOF-SIMS (Time-of-flight secondary ion mass spectrometry) 기법으로 작동하며, 이는 이온 형태의 샘플 표면에 존재하는 일시적 및 추적 요소를 측정 할 수 있습니다. 이 기기는 정적 고에너지 이온 음향 렌즈 시스템과 함께 고에너지 밀도 분석 소스 (high energy density analysis source) 의 선택을 포함합니다. 이를 통해 각 실험의 분석 요구에 맞게 TOF 검출기의 빠르고 정확한 교정이 가능합니다. 이 설정은 이온 수 (ion count) 와 질량 정확도 (mass accuracy) 의 최적의 조합을 제공하여 연구원들이 다양한 시간 프레임에서 광범위한 동적 범위를 가진 질량 스펙트럼을 얻을 수 있습니다. 이것은 기기의 3 양극 디자인을 통해 달성되며, 이는 샘플 이온을 공정하게 선택하여 샘플 영역 위에 장착 된 비행 시간 (time-of-flight) 검출기로 보냅니다. TOF-SIMS IV는 또한 열로, 진공 밀봉 된 샘플 구획을 통해 환경 오염, 기구 내재, 주변 환경에서 나오는 환경 오염을 줄이기 위해 설계되었습니다. 이것은 샘플이 공기와 균질해지거나 환경 내 요소와의 상호 상호 작용 (mutual interaction) 에 노출되는 것을 유지합니다. 이 기구 는 또한 "이미징 '과" 샘플' 매핑 을 위한 표면 탐사선 을 갖추고 있어서, "샘플 '의 구성 과 형태 에 관한 정보 를 수집 하는 편리 한 방법 을 사용 할 수 있다. CAMECA TOF-SIMS IV는 1 미크론의 해상도 (resolution) 에 매핑할 수 있으며, 샘플의 물리적 특성을 정확하고 자세히 살펴볼 수 있습니다. 이 기기는 모듈식이며 실험의 요구 사항에 쉽게 적응할 수 있으며, 사용자에게 TOF-SIMS IV를 완벽하게 제어할 수 있습니다. 기기와 관련된 소프트웨어 인터페이스 (Software interface) 는 편리하고 사용하기 쉬운 인터페이스를 제공하여 질량 분광계를 제어하고, 획득 한 스펙트럼을 보고, 분석합니다. 이것은 연구원들이 물질의 동위 원소 및 원소 조성을 신속하게 식별하고 불순물 또는 화학 조성 변화를 감지하는 데 도움이됩니다. CAMECA TOF-SIMS IV는 견고성과 정확한 결과를 제공하는 능력 때문에 연구원들 사이에서 선호되는 도구가되었습니다. 표면 공학, 재료 과학, 생명 과학, 마이크로 일렉트로닉스 (microelectronics) 및 반도체 산업 (semiconductor industry), 촉매 (catalysis) 와 같은 분야에서 널리 사용됩니다. 이러한 모든 장점을 통해 TOF-SIMS IV는 복잡한 표면에 대한 정보를 정확하고 신속하게 분석하고 수집하는 뛰어난 방법입니다.