판매용 중고 BRUKER Energy Dispersive Spectrometers (EDS) #293724109

ID: 293724109
XFlash 630MT Upgraded to 30 mm² (2) XFlash 410-MT Detectors FEI CM 100 Fitting.
BRUKER EDS (Energy Dispersive Spectrometers) 는 미세한 수준에서 샘플의 원소 구성을 분석하기 위해 재료 과학 및 생명 과학 연구에 사용되는 최첨단 분석 도구입니다. 이 고성능 분광계는 샘플이 전자 또는 X- 선 (X-ray) 으로 폭격 될 때 특징적인 X- 선 (X-ray) 방출에 기초하여 샘플에 다양한 원소의 존재를 감지하고 정량화하도록 설계되었습니다. BRUKER EDS 시스템의 첨단 기술과 정밀도는 다양한 분야의 연구원, 과학자, 엔지니어를위한 필수 불가결한 도구입니다. BRUKER EDS 장비의 중심에는 X- 선 검출기 (X-ray detector) 가 있는데, 이 검출기는 분석 과정에서 샘플에서 방출되는 X- 선을 캡처합니다. 이러 한 탐지기 들 은 매우 민감 하고 효율적 이 되도록 설계 되어 있어서, "샘플 '내 의 미량 원소 들 까지도 탐지 할 수 있게 해 준다. BRUKER EDS 시스템에 사용되는 검출기는 일반적으로 실리콘 드리프트 검출기 (SDD) 또는 실리콘 드리프트 챔버 (SDC) 를 사용하여 우수한 에너지 해상도 및 검출 효율성을 제공합니다. BRUKER EDS 시스템의 작동에는 샘플 준비, 샘플 로드, 데이터 획득, 데이터 분석 등의 순차적 단계가 포함됩니다. 샘플은 일반적으로 전도성 기판 (conductive substrate) 에 장착 한 후 EDS 장치의 진공 챔버 (vacuum chamber) 에 배치하여 준비됩니다. 그런 다음, 샘플을 집중식 전자 빔 또는 X- 선 빔으로 폭격하여, 샘플의 원자를 흥분시켜 특성 X- 레이를 방출합니다. 그런 다음 X 선 검출기에 의해 X 선이 검출되고 추가 분석을 위해 전기 신호로 변환됩니다. BRUKER EDS 시스템의 데이터 획득 프로세스에는 X-ray 검출기에서 발생하는 신호를 수집하고 처리하는 작업이 포함됩니다. 엑스선 (X-ray) 배출의 에너지와 강도는 측정 및 기록되어 샘플의 원소 조성에 대한 귀중한 정보를 제공합니다. 분석 과정에서 수집 된 데이터는 스펙트럼 (spectra), 원소 맵 (elemental map) 및 정량적 원소 분석 (quantitative elemental analysis) 형태로 시각화 될 수 있으며, 이를 통해 연구자들은 샘플 내 요소의 분포와 농도에 대한 통찰력을 얻을 수 있습니다. BRUKER EDS 시스템의 주요 장점 중 하나는 공간 해상도가 높은 샘플에 대한 빠르고 정확한 원소 분석 (elemental analysis) 기능을 제공하는 것입니다. 이 분광계의 높은 감도와 정밀도는 야금, 지질학, 생물학, 제약, 반도체 연구 등 다양한 응용 분야에 이상적입니다. 연구원들은 BRUKER EDS 시스템을 사용하여 샘플에 존재하는 요소를 식별하고 정량화하고, 재료 특성을 특성화하고, 원소 분포를 연구하고, 원소 매핑을 수행 할 수 있습니다. 결론적으로, BRUKER Energy Dispersive Spectrometers (EDS) 는 재료 과학 및 생명 과학 연구에서 중요한 역할을하는 최첨단 분석 도구입니다. 이러한 고급 분광계는 뛰어난 감도, 정밀도, 공간 해상도의 고성능 원소 분석 기능을 제공합니다. 첨단 기술과 최첨단 기능을 갖춘 BRUKER EDS (BRUKER EDS) 시스템은 현미경 수준에서 샘플의 원소 구성을 풀려고하는 연구자와 과학자들에게 필수적인 도구입니다.
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