판매용 중고 BRUKER-AXS Vertex 70 #293812105

BRUKER-AXS Vertex 70은 다양한 재료의 물리적 형태 및 화학 분석을 위해 설계된 고성능 벤치 탑 X- 선 분광계입니다. Vertex 70은 X-ray 기술의 최신 발전을 통합하여 샘플 재료의 화학 조성, 결정 성, 입자 크기, 형태 학적 특성, 밀도 및 산화 상태를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 강력한 X 선 소스 및 검출 시스템을 갖추고 있으며, 빛 요소와 많은 추적 성분을 포함한 낮은 Z 재료의 원소 분석에서 다색성 X 선 스펙트럼을 달성 할 수 있습니다. 이 기기는 고해상도 결정 분석기, 단색 장치, 다양한 검출기 (detector) 등 다양한 성능 기능을 제공합니다. 이를 통해 다양한 실험 조건에서 감도가 뛰어난 재료를 질적이고 정량적으로 분석 할 수 있습니다. BRUKER-AXS Vertex 70은 BRUKER-AXS에서 개발한 여러 기술을 제공하여 샘플 분석을 쉽고 빠르게 수행합니다. 고급 소프트웨어 및 하드웨어 구성 요소에는 최적의 빔 흐림 시스템 (Beam Blurring System), 다국어 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 및 와이드 스펙트럼 검색 모드 (Wide Spectrum Search Mode) 가 포함된 최신 구성 요소가 있습니다. BRUKER-AXS 융합 소스/검출기 설계는 더 정확한 측정을 위해 더 작은 X-ray 빔 스팟 크기를 허용합니다. 감수성이 높은 선형 검출기를 사용하여 감지 한계를 낮출 수 있습니다. Vertex 70의 USB 2.0 포트를 사용하면 모든 PC에 빠르게 연결할 수 있습니다. BRUKER-AXS Vertex 70은 5 가지 스캔 모드 옵션으로 단순화된 테스트 방법과 유연성을 제공합니다. 여기에는 Time Scan 모드, Isotopic Scan 모드, Elemental Scan 모드, Combined Scan 모드 및 Coefficient Scan 모드가 포함됩니다. 시간 스캔 (Time Scan) 모드에서는 특정 측정 지점에서 샘플을 측정하기 위해 기기가 트리거되는 반면, 동위 원소 스캔 (Isotopic Scan) 모드에서는 특정 동위 원소를 기반으로 원소 분석을 수행합니다. [요소 스캔] 모드에서 [정점 70] 은 특정 요소를 스캔하고 [결합 스캔] 모드는 최대 3개의 요소를 스캔합니다. 마지막으로 Coefficient Scan 모드는 특정 계수를 스캔하여 데이터를 가져옵니다. BRUKER-AXS Vertex 70 (BRUKER-AXS Vertex 70) 은 다양한 분석 작업에 적합한 다양한 사용자 친화적 도구입니다. 첨단 X-ray 시스템은 BRUKER-AXS 혁신적인 기술 및 혁신적인 소프트웨어 기능과 결합되어 물리적, 화학적 연구 실험실에서 정확한 X-ray 분광학 분석을 위해 탁월한 선택입니다. 버텍스 70 (Vertex 70) 은 산업 분석, 품질 관리, 실험실 연구와 같은 다양한 응용 분야에 적합한 선택입니다.