판매용 중고 BRUKER-AXS Vertex 70 #293649663
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ID: 293649663
FTIR Spectrometer
HYPERION 1000 and HYPERION 2000 IR microscope
HYPERION 3000 Imaging microscope
IMAC (imaging chamber)
HTS- XT module (High Throughput Screening Extension)
Microbiological module
FT Raman module (RAM II)
FIR bolometer.
BRUKER-AXS Vertex 70은 XRD (X- 선 회절) 연구를 위해 설계된 분광계입니다. 버텍스 70 (Vertex 70) 은 다양한 샘플의 구조, 특성 및 역학에 대한 자세한 정보를 제공 할 수있는 고성능 기기입니다. BRUKER-AXS Vertex 70에는 고해상도 단색 Cu X-ray 소스, 고정밀 샘플 스테이지, 검출기 어셈블리 및 데이터 취득 및 분석 시스템이 장착되어 있습니다. X- 선 소스의 파장은 0.15418 nm이며, 이는 샘플 매개변수의 작고 미묘한 변화를 감지 할 수 있습니다. 샘플 스테이지는 3 차원 공간에서 움직이고 X 선 빔에 대한 샘플을 정확하게 배치 할 수 있습니다. 이와 결합하여 Vertex 70은 1 ° 각도 범위를 가지며 기능을 0.0004 ° 까지 해결할 수 있습니다. 검출기 어셈블리에는 X 선 회절 피크에 민감한 섬광 검출기 한 쌍이 있어 수집 효율이 높습니다. BRUKER-AXS Vertex 70 은 데이터 수집, 분석, 디스플레이를 위한 고급 소프트웨어를 갖춘 통합 데이터 획득 시스템도 갖추고 있습니다. 사용자는 이 소프트웨어를 사용하여 설정과 특정 작업의 기능을 사용자 정의할 수 있습니다. 또한 데이터 수집 자동화 기능과 사전 정의된 실험 라이브러리 (Library of pre-defined experiments) 도 포함되어 있습니다. 버텍스 70 (Vertex 70) 에는 데이터 시각화를 위해 다양한 그래픽 도구를 갖춘 사용자 친화적 그래픽 사용자 인터페이스가 있습니다. BRUKER-AXS Vertex 70은 미네랄, 폴리머, 결정, 제약 및 나노 재료를 포함한 다양한 재료 및 매개변수를 분석하는 데 사용될 수 있습니다. 표본 을 분석 하는 데 사용 되는 것 과 더불어, 분광계 를 사용 하여 물질 의 구조 와 그 특성 들 (예: 표면 거칠기, 온도, 변형, 결정성) 을 조사 할 수 있다. 또한 촉매, 부식 및 박막 준비와 같은 연구 분야에도 사용됩니다. 전반적으로 Vertex 70은 X- 선 회절에 대한 자세한 연구를 위해 특별히 설계된 고성능 분광계입니다. 이 제품은 고해상도 X- 선 (X-ray) 소스와 매우 정확한 샘플 스테이지와 통합된 데이터 획득 및 분석 시스템을 갖추고 있습니다. 더우기, 분광계 는 매우 정확 한 "에너지 '와" 파라미터' 의 배열 을 분석 할 수 있다.
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