판매용 중고 BRUKER-AXS MicroFlex LT #293767542

BRUKER-AXS Microflex는 심층 분자 분석을 위해 설계된 고성능 분광계입니다. 고성능 광학과 컴퓨터 제어 스캐닝 시스템을 결합한 강력한 3 축 (goniometer) 으로 구성되어 있습니다. Microflex의 주요 응용 프로그램은 X- 선 흡수 분광법 (XAS) 을 사용하여 상세한 분자 구조 및 역학을 조사하는 것입니다. BRUKER-AXS Microflex 의 주요 구성 요소는 3 개의 축 goniometer 로, 샘플의 정확한 위치를 지정할 수 있습니다. 샘플은 고니 오미터 (goniometer) 의 파이 축 (phi axis) 에 배치되며 방위 및 회전 동작으로 이동할 수 있습니다. 고니 오미터 (goniometer) 의 정밀도는 동일한 샘플로 정확하고 멀티 플렉스 판독 (multiplex reading) 을 취할 수있게한다. 이를 통해 샘플의 자세한 구조 또는 구성 매핑이 가능합니다. Microflex의 XAS 분광계는 샘플 챔버, 광학 및 컴퓨터 제어 스캐닝 및 판독 시스템으로 구성됩니다. 샘플 챔버 (sample chamber) 는 샘플의 열 이득 또는 손실을 최소화하는 동시에 X- 선 광자의 처리량을 선호하도록 설계되었습니다. 광학 감도를 높이기 위해 렌즈 (lenses), 거울 (mirror), 단색 장치 (monochromator) 를 포함한 여러 유형의 광학을 사용할 수 있습니다. 편광 된 X- 선 빔은 양극 또는 싱크로트론 (synchrotron) 의 X- 선 소스에 의해 생성되며, 이어서 샘플에 의해 회절된다. X- 선 에너지 해상도 및 강도는 수정 유형 (crystal type), 전자 에너지 (electron energy), 슬릿 (slit) 과 같은 여러 매개변수의 사용자 제어로 조정할 수 있습니다. BRUKER-AXS Microflex의 판독 시스템은 검출기, 신호 처리 하드웨어 및 관련 소프트웨어로 구성됩니다. 위치 민감성 검출기는 ARPES (angle-resolved photoemission spectroscopy) 및 XRF (X-ray fluorescence) 와 같은 광범위한 신호 처리 기술을 사용할 수 있습니다. 함께 제공되는 소프트웨어를 사용하면 데이터를 샘플 서피스의 자동 스캔 (automatic scan) 또는 스펙트럼 맵 (spectral map) 으로 시각화할 수 있습니다. Microflex는 X- 선 흡수 분광법 및 샘플의 조성 또는 구조 매핑에 적합한 고정밀 분광계입니다. 강력한 광학, 정확한 3 축 goniometer 및 컴퓨터 제어 readout의 조합으로 정확한 고해상도 XAS 측정이 가능합니다.