판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT 670-IR #9203531

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 670-IR 분광계는 재료의 광학 특성을 측정하기 위해 고도로 향상된 기기입니다. X-Y 스캐너 레이저 (X-Y Scanner Laser) 로 구동되며 0.25- > 5.15 µm (미크론) 의 파장에서 복잡하고 정밀한 적외선 (IR) 흡수 측정을 수행하도록 설계되었습니다. 이 분광계는 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface), 다국어 기능 (Multi-Language Capability), 사용하기 쉬운 중요한 소프트웨어 제품군을 갖춘 업계 최고의 장치입니다. 이 분광계는 고해상도 지원 간섭계 (high resolution-capable interferometer), 고급 파장 조절 시스템 (advanced wavelength scaling system), 빠른 스캐닝 (fast scanning) 및 다양한 환경, 프로세스, 재료 및 광학 부품 테스트 응용 프로그램 기능을 갖추고 있습니다. 개선된 핸드헬드 설계, 냉각식 감지기, 저소음 스캔 아키텍처, 사용자에게 친숙한 진단 기능을 갖춘 HP 670-IR은 정확한 IR 테스트가 필요한 모든 사용자에게 강력한 선택입니다. AGILENT 670-IR 분광계의 소프트웨어 제품군은 광범위한 데이터 수집 및 분석 기능을 제공합니다. 베이스라인 빼기, 배치 데이터 수집 (Batch Data Collection), 샘플 방향 (Sample Orientation) 등의 기능은 사용자에게 친숙한 소프트웨어로 관리할 수 있습니다. 또한 소프트웨어와 함께 스펙트럼 스캐닝 (Spectral scanning) 을 사용하여 최대 256 개의 다른 지점을 스캔하여 강제 장착 스펙트럼 분석을 할 수 있습니다. 분광계 기능 외에도, HEWLETT-PACKARD 670-IR에는 정확한 테스트 결과를 보장하기 위해 온도 조절 샘플 구획도 포함되어 있습니다. 이는 온도 특이 물질의 스펙트럼 반응 (spectral response) 을 테스트하거나, 광범위한 온도에서 컴포넌트를 추적, 모니터링하는 경우에 적합합니다. KEYSIGHT 670-IR 분광계의 추가 기능에는 모터 구동 회전 샘플 테이블이 포함되어 있어, 쉽고 정밀한 샘플 배치 및 조정이 가능합니다. 표본 바늘 홀더는 바늘 (예: 프로브 또는 마이크로 미터) 로 구성 요소를 테스트 할 때 정확한 측정을 보장하기 위해 제공됩니다. 670-IR 분광계는 매우 진보된 장치로, 다양한 테스트 시나리오에 강력한 성능을 제공합니다. 고해상도 (High Resolution) 지원 간섭계, 고급 파장 조절 시스템, 빠른 스캔 및 모든 환경, 프로세스, 재료, 광학 부품 테스트 어플리케이션에 적합한 다양한 기능을 제공합니다. 향상된 기능, 직관적인 소프트웨어 제품군 및 다중 액세서리를 갖춘 AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT 670-IR 분광계는 모든 실험실에서 적외선 분석을 완료 할 때 고려해야 할 강력한 도구입니다.