판매용 중고 ZEISS Supra 40 #9142395

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ID: 9142395
Field Emission Scanning Electron Microscope (FESEM) With compressor and chiller BRUKER EDS KE Type 211 QBSD Resolution specifications: 1 nm 15 kV, 1.4 nm 1 kV PFEIFFER Turbo pump JUN-AIR 305 Air compressor HASKRIS R050 Air cooled chiller BRUKER XFlash 6/60 SSD 126eV Spectrum Quant EQuant UQuant Scan MultiPoint Line Map EMap Report Project SEMLink ExternControl TChart SEM & EDS PCs With dual SSDs & Windows 7 Fittings Specimen mounts Pin stubs Specimen preparation materials.
ZEISS Supra 40은 다양한 샘플의 표면과 지하면을 이미징 및 특성화하도록 설계된 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 입니다. 최신 인체 공학적 (ergonomic) 디자인이 특징이며, 고해상도 이미징 기능을 지원하는 최첨단 기술 세트가 장착되어 있습니다. Supra 40은 큰 6 방향 조절 가능 샘플 스테이지, 우수한 정렬 광학 및 전자 광학을 포함하는 자동화 지원 가속기 구조를 가지고 있으며, 유연성과 범위가 매우 다양합니다. 이를 통해 사용자는 배율, 해상도, 작업 거리, 에너지 범위 (energy range) 와 같은 매개변수를 조정하여 특정 응용 프로그램에 가장 적합한 결과를 얻을 수 있습니다. SEM에는 또한 FEG (Field Emission Gun) 소스와 In-lens Detector가 장착되어 있어 사용자에게 광범위한 분석 데이터에 대한 안정적인 소스를 제공합니다. 이 FEG 소스 및 인 렌즈 (in-lens) 검출기 조합을 사용하면 가장 낮은 에너지에서도 최고 해상도의 결과를 얻을 수 있습니다. ZEISS Supra 40은 종합적인 온도 및 분광 도구가 포함 된 종합 이미지 및 데이터 처리 제품군 인 Supra 소프트웨어를 통합합니다. 여기에는 실시간 편향 및 자동 수정, 라인 측정, 형태 필터, 자동 세그먼트 등과 같은 다양한 이미지 분석 기능이 포함됩니다. 또한 Supra Software는 샘플의 3D 모델을 생산하여 탐색과 시각화를 쉽게 수행할 수 있습니다. 운영 중 Supra 40은 다양한 안전 요구 사항을 충족하도록 설계 및 테스트되었습니다. 수많은 인터 록과 지표는 시스템을 안전하게 유지하도록 규제합니다. 또한, 많은 구성 요소들은 필터나 퓨즈 (fuses) 와 같은 여러 고장 안전 (fail-safe) 조치를 취하여, 긴급 상황이 발생할 가능성은 거의 없습니다. 전반적으로 ZEISS Supra 40은 사용자에게 높은 해상도와 정확도를 제공하도록 설계된 매우 강력한 SEM입니다. FEG 소스, in-lens 검출기, 고급 optics 및 automation-ready 구성 요소의 조합은 많은 경쟁 업체보다 경쟁 우위를 점합니다. 사용하기 쉽고 강력한 소프트웨어의 도움으로, 이 SEM 은 탁월한 기능과 성능을 제공합니다.
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