판매용 중고 ZEISS / LEO EVO 50 #9261330

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ID: 9261330
빈티지: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM) Drying accessories PC Computer Monitors Operating system: Windows XP Detectors: Secondary electron Backscatter Operating voltage: 1-20 kV 2008 vintage.
ZEISS/LEO EVO 50은 고성능 이미징 및 분석을 위해 설계된 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 다양한 기능을 통합하여 안정적이고 정확한 결과를 보장합니다. 첫째, LEO EVO 50은 이미징 및 분석 목적으로 사용될 수 있습니다. 이미징 해상도는 1.2nm에서 450x450mm 원형 챔버와 가장 높은 신호 대 잡음 비율로 제공됩니다. 분석 스펙트럼에는 원소 분석 (EDS/EDX) 및 선 스캔뿐만 아니라 위상 이동, 차동 오거 및 역 산란 분광법 (BSE) 이 포함됩니다. 이 모든 기술은 동일한 샘플에서 결합 될 수 있으며, 자세한 다핵 조사를 허용합니다. 둘째, ZEISS EVO 50에는 사용자 편의성을 향상시키기 위해 고급 자동화 기능이 통합되어 있습니다. 자동 샘플 로딩 및 추적 (Automatic sample loading and tracking) 기능을 통해 현미경에서 샘플을 원격으로 모니터링할 수 있습니다. 그런 다음, 드리프트 (drift) 및 포커스 (focus) 수정 기능을 사용하여 이미징 및 분석 중에 샘플을 초점을 맞추고 데이터 정확도와 정밀도를 지원합니다. 또한, 대형 표본 챔버와 결합 된 라미네이션 마이닝 모드는 고 처리량 샘플 로딩 및 동시 인수를 수용합니다. 마지막으로, EVO 50은 고대비 이미징 기능을 제공하여 사용자가 고도의 샘플 이미지를 생성할 수 있도록 합니다. 아르곤 이온 콘덴서를 사용하여 에너지 분산 시스템 (EDS) 인공물을 줄이고 이미지 품질을 향상시킬 수 있습니다. 'non-geniculate' 방식의 'knock-on' 기술을 통해 사용자는 동일한 시점 또는 다른 시점으로 데이터 세트를 얻을 수 있으므로 데이터 무결성을 극대화할 수 있습니다. 결론적으로, ZEISS/LEO EVO 50 스캐닝 전자 현미경은 신뢰할 수 있고, 정확하며, 반복 가능한 이미징 및 분석을위한 최고의 요구 사항을 충족하도록 설계되었습니다. 고급 자동화 기능과 고대비 (High-Contrast) 이미징 기능을 통합하여 사용자에게 상세한 결과를 얻기 위해 필요한 모든 도구를 제공합니다.
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