판매용 중고 ZEISS LEO 1560 #293823838

ZEISS LEO 1560은 나노 미터 척도에서 표본의 분석을 용이하게하는 주사 전자 현미경 (SEM) 입니다. 최대 1 나노 미터, 최대 270,000X의 고품질 확대의 인상적인 시스템 해상도를 제공합니다. 이 기기의 고해상도 (High Resolution) 와 고대비 (High Contrast) 이미징 기능을 통해 표면 구조와 형태를 자세히 관찰 할 수 있습니다. SEM은 최고의 해상도를 위해 매우 안정적이고 밝은 전자 빔을 제공하는 독특한 LAFE (Large Area Field Emission) 소스가 장착 된 100mm 길이의 기둥으로 제작되었습니다. 높은 밝기와 작은 전자 빔 (electron beam) 크기를 통해 사용자는 매우 높은 디테일을 가진 샘플을 이미지화할 수 있으며, 이는 1 마이크로미터보다 작은 기능을 분석하는 데 이상적입니다. 또한 자동 이미지 수집 시스템 (Automated Image Acquisition System) 을 지원하여 사용자가 아무런 작업 없이 기기를 설정하고 제어할 수 있습니다. LEO 1560 SEM에는 다양한 내장 이미징 기능이 있습니다. 여기에는 이미지 등록, 서피스 리프트 오프, 이미지 향상 (최고 품질 결과) 등 다른 포스트 프로세싱 기술과 결합된 2 차 및 백 스캐터 전자 이미지 대비가 포함됩니다. 또한 위상 식별을 위해 재료 특성화 및 전자 역 산란 회절 (EBSD) 에 대한 원소 분석을 지원합니다. 이 기기는 이미징 기능 외에도 극저온 샘플 로딩 (cryogenic sample loading) 및 샘플의 자동 정렬을 지원하는 웨이퍼 자동화 시스템 (wafer automation system) 을 갖추고 있어 처리량이 많은 샘플 처리가 가능합니다. 또한 동력 Z- 드라이브 (Z-drive) 가 제공되어 Z- 축 방향으로 샘플을 빠르고 정확하게 탐색 할 수 있습니다. 전반적으로, ZEISS LEO 1560 (ZEISS LEO 1560) 은 최고의 이미지 품질과 해상도를 제공하도록 설계된 기능이있는 전자 현미경을 스캔하기위한 인상적인 도구입니다. 또한 샘플 처리량을 가속화합니다. 광범위한 기능을 통해 재료 특성, 표면 형태 분석, 집적 회로 검사 등 응용에 완벽한 SEM이 됩니다.