판매용 중고 ZEISS LEO 1530 #9204362
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ID: 9204362
Field Emission Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
With EFJED RES-M100 air locks.
ZEISS LEO 1530은 광범위한 이미징 방향으로 전례없는 성능을 제공하는 차세대 ESEM (Environmental Scanning Electron Microscope) 입니다. 첨단 연구 응용 프로그램 (Advanced Research Applications) 을 위한 완벽한 도구로서, 나노 기술 수준까지도 높은 해상도의 이미징을 제공합니다. 1530 은 고출력 FE 검출기 (detector) 로, 전자를 감지할 수 있어 훨씬 더 높은 해상도, 더 나은 명암비, 더 빠른 스캔 속도를 제공합니다. 이 시스템은 해상도를 향상시켰으며, 사용자에게 확장된 확대 기능을 제공합니다. 또한 저에너지 2 차 전자에 대한 명암의 감도를 크게 증가시키는 새로운 에너지 필터가 포함되어 있습니다. 1530 년에는 30mm 크기의 대형 이미징 영역이 장착되어 있으며, 이는 더 큰 샘플 준비 및 샘플 크기를 지원합니다. 이를 통해 기계적 조정에 대한 요구가 적은 더 큰 샘플 관찰 영역을 허용합니다. 또한 고정밀도 샘플 높이와 기울기 제어를 위한 완전 자동 정전기 단계 (electrostatic stage) 가 포함되어 있어 빠르고 쉬운 샘플 획득이 가능합니다. 1530은 BSE (Backscattered Electron) 이미징, SEI (Secondary Electron Imaging) 및 원소 매핑 및 자동화 된 큰 영역 BSE 이미징을 포함하는 분석 기능과 같은 다양한 이미징 방법을 제공합니다. 또한 아키텍처 및 구성 분석을 위한 향상된 이미지 개선 기능도 제공합니다. 1530 년에는 고급 스티칭 (stitching) 및 드리프트 (drift) 수정 기능을 갖춘 다양한 사용자 친화적 인 소프트웨어가 포함되어 있어 넓은 표본 영역을 빠르게 컨투어 스캔할 수 있습니다. 또한 자동 검색 (automated search) 툴을 제공하여 세부적인 정보를 검색할 때 검색 시간을 단축할 수 있습니다. 1530 년에는 진공 펌프, 이온 스퍼터, 습식 화학 시스템, cryo 챔버, 난방 시스템 및 마운트 홀더와 같은 다양한 다른 액세서리가 장착되어 있습니다. 이것은 다재다능성을 더하고, 다양한 연구 응용에 이상적인 도구로 만듭니다. 결론적으로 LEO 1530 은 다양한 이미징 모드와 툴을 제공하는 고급 ESEM (Advanced ESEM) 시스템으로, 사용자는 안정적이고 효율적인 장비를 제공합니다. 1530은 최첨단 기능과 사용자 친화적 인 소프트웨어를 결합하여 빠르고 정확한 샘플 분석, 이미징 기능을 제공합니다. 광범위한 응용 프로그램 및 연구 방향에 이상적인 선택입니다.
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